超聲波探傷儀、超聲波探頭、試塊及耦合劑等組成超聲波檢測系統,它們是超聲波探傷的重要設備。超聲波探傷儀是超聲波探傷的主要設備,它能夠快速識別出工件內部多種缺陷(裂紋、氣孔、夾雜等),并且不會對工件造成任何損傷,廣泛適用于實驗室與工程現場。



一、 按(an)照超聲(sheng)波的(de)連續(xu)性分(fen)類


 1. 脈沖波超(chao)聲探傷儀


  這種儀器主要是(shi)通過周期性的(de)發射不連(lian)續的(de)脈沖波(bo)來(lai)激(ji)勵換能器產生(sheng)超聲波(bo),根據超聲波(bo)的(de)傳播速度或(huo)者回波(bo)的(de)幅值等特性判斷(duan)工件中是(shi)否(fou)有缺陷,這是(shi)目前最常用的(de)探(tan)傷儀模式(shi)。


 2. 連(lian)續波超(chao)聲探傷儀


  這(zhe)(zhe)種儀(yi)器(qi)(qi)探頭向工件(jian)發射(she)連續(xu)且(qie)(qie)頻率不變(bian)的超(chao)聲(sheng)波,主要是通(tong)過(guo)觀察透過(guo)工件(jian)的超(chao)聲(sheng)波強度(du)(du)的變(bian)化來(lai)判(pan)斷工件(jian)中是否有缺陷(xian)。這(zhe)(zhe)種儀(yi)器(qi)(qi)通(tong)常情況(kuang)下靈敏度(du)(du)低(di),而且(qie)(qie)難(nan)以確定(ding)缺陷(xian)位(wei)置,大多被脈(mo)沖探傷儀(yi)器(qi)(qi)取(qu)代,不過(guo)仍舊應用(yong)在超(chao)聲(sheng)波顯像及超(chao)聲(sheng)波共(gong)振(zhen)測厚等方面。


3. 調頻波超聲探傷儀


  這(zhe)種(zhong)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)發(fa)射的超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)是周(zhou)期(qi)性連續且頻(pin)率周(zhou)期(qi)性變(bian)化(hua)的超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo),主(zhu)要是觀察發(fa)射波(bo)與回波(bo)的變(bian)化(hua),判斷工件中有無缺陷(xian)。但其局(ju)限性是適用于(yu)檢測(ce)與探測(ce)面平行的缺陷(xian),所以這(zhe)種(zhong)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)也大多被脈(mo)沖探傷儀(yi)(yi)器(qi)(qi)取代。



二(er)、按缺陷顯示方式(shi)分類


1. A型顯示


  A型顯(xian)示探傷(shang)儀(yi)反饋的是(shi)(shi)波(bo)(bo)(bo)(bo)形,它顯(xian)示的是(shi)(shi)超聲波(bo)(bo)(bo)(bo)回波(bo)(bo)(bo)(bo)的位置與(yu)幅度(du),回波(bo)(bo)(bo)(bo)的位置反映的是(shi)(shi)超聲波(bo)(bo)(bo)(bo)的傳播時間,幅度(du)則是(shi)(shi)體現出了缺陷(xian)的特性。


2. B型(xing)顯(xian)示(shi)


  B型(xing)顯示探(tan)傷(shang)儀(yi)反(fan)饋的(de)是圖像,探(tan)傷(shang)儀(yi)沿(yan)熒光屏橫(heng)坐標方向(xiang)機械(xie)掃描形成探(tan)頭的(de)掃查軌跡,沿(yan)縱(zong)坐標方向(xiang)反(fan)饋處回波的(de)時間(或距離),這樣就可以直(zhi)觀地表(biao)示出處于(yu)某一縱(zong)面上的(de)缺(que)陷(xian)。


3. C型顯(xian)示


  C型顯示(shi)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)反饋的(de)也是圖(tu)像,探(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)在(zai)橫(heng)坐標和縱(zong)坐標方向都是機械(xie)掃描來代(dai)表(biao)探(tan)(tan)頭在(zai)工作表(biao)面(mian)的(de)位置(zhi)。光(guang)點輝度(du)表(biao)示(shi)探(tan)(tan)頭接收信(xin)號(hao)幅(fu)度(du),所(suo)以當探(tan)(tan)頭在(zai)工件(jian)表(biao)面(mian)移動反饋在(zai)熒光(guang)屏上(shang)便顯示(shi)出工件(jian)內(nei)部缺陷的(de)平面(mian)圖(tu)像,但不能顯示(shi)缺陷深度(du)。


  A型、B型、C型三種顯示(shi)(shi)分別如圖3.17所示(shi)(shi)。


圖 17.jpg



三(san)、按超聲波(bo)的通道(dao)分(fen)類


1. 單通(tong)道(dao)探傷儀


   這種儀器在目(mu)前的超聲波檢(jian)測中(zhong)應用比較廣泛,一般是(shi)使(shi)用一個探頭(tou)或(huo)一對探頭(tou)。


2. 多通(tong)道探傷儀(yi)


   在某些場合(he)中,單一(yi)的探(tan)頭(tou)接收的回波(bo)信息較少(shao),所以采用(yong)多個或多對探(tan)頭(tou)同時工作(zuo),通常應用(yong)于自動化檢測(ce)。



四、按工作(zuo)制式分類


1. 模擬式超聲探(tan)傷儀


  a. A型(xing)脈沖反射式超聲波探傷儀


    A型脈沖反(fan)射式超聲波探傷設備主要包(bao)含同步電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)、發射電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)、接(jie)收放大電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)、掃描電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)、顯示(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)和電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)源電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)等(deng)主要電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu),其次有延時電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)、報(bao)警電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)、深度補償電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)、標記(ji)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)、跟(gen)蹤及(ji)記(ji)錄等(deng)附加裝置(zhi)組成。電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)框圖如圖3.18所示(shi)。


圖 18.jpg


  工作原理:電(dian)路(lu)(lu)接(jie)通后,同步電(dian)路(lu)(lu)產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)周期性同步脈沖(chong)信號,一方面(mian)(mian)同步脈沖(chong)觸(chu)發(fa)(fa)掃描(miao)發(fa)(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)器(qi)產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)線性的(de)(de)鋸齒波(bo)(bo)(bo),經掃描(miao)放(fang)大加到(dao)示波(bo)(bo)(bo)管水平(ping)(ping)(x軸(zhou))偏轉(zhuan)板(ban)上,產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)一個從左到(dao)右(you)的(de)(de)水平(ping)(ping)掃描(miao)線,即(ji)時基線。另一方面(mian)(mian)觸(chu)發(fa)(fa)發(fa)(fa)射(she)(she)電(dian)路(lu)(lu)產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)高頻(pin)脈沖(chong)并作用于(yu)探(tan)頭(tou),通過探(tan)頭(tou)的(de)(de)逆壓(ya)電(dian)效(xiao)應將(jiang)(jiang)信號轉(zhuan)換為(wei)聲(sheng)(sheng)信號,發(fa)(fa)射(she)(she)超聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)。超聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在傳(chuan)播過程中遇到(dao)異質界面(mian)(mian)(缺陷(xian)或底(di)面(mian)(mian))產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)反射(she)(she),反射(she)(she)的(de)(de)回波(bo)(bo)(bo)由探(tan)頭(tou)接(jie)收。通過探(tan)頭(tou)的(de)(de)正壓(ya)電(dian)效(xiao)應將(jiang)(jiang)聲(sheng)(sheng)信號轉(zhuan)換為(wei)電(dian)信號送至放(fang)大電(dian)路(lu)(lu)被放(fang)大、檢波(bo)(bo)(bo),信號電(dian)壓(ya)加到(dao)示波(bo)(bo)(bo)管的(de)(de)垂直(zhi)(y軸(zhou))偏轉(zhuan)板(ban)上,使(shi)電(dian)子束發(fa)(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)垂直(zhi)偏轉(zhuan),在水平(ping)(ping)掃描(miao)的(de)(de)相應位(wei)置上產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)缺陷(xian)的(de)(de)回波(bo)(bo)(bo)和(he)底(di)面(mian)(mian)波(bo)(bo)(bo)。


 b. B型顯示(shi)超聲波(bo)探傷儀


  工作(zuo)原理:同步電路(lu)(lu)(lu)產生脈沖信號觸(chu)發(fa)探(tan)頭(tou)發(fa)射超聲波(bo)信號,同時(shi)也觸(chu)發(fa)y掃(sao)描電路(lu)(lu)(lu),并將鋸齒波(bo)電壓(ya)(ya)施加在示(shi)波(bo)管y軸偏(pian)(pian)轉板上(shang)(shang)。施加在x軸偏(pian)(pian)轉板上(shang)(shang)的(de)是隨探(tan)頭(tou)位置(zhi)變化而(er)變化的(de)直(zhi)流電壓(ya)(ya),當(dang)探(tan)頭(tou)在工件上(shang)(shang)沿直(zhi)線移動時(shi),在顯示(shi)器上(shang)(shang)顯示(shi)出沿探(tan)頭(tou)掃(sao)描線所處(chu)的(de)截面上(shang)(shang)的(de)前后表面,內(nei)部反(fan)射界面的(de)位置(zhi)、取向及深度(du)。電路(lu)(lu)(lu)框圖如圖3.19所示(shi)。


圖 19.jpg



 c. C型顯示(shi)超聲探(tan)傷儀(yi)


  C型顯示(shi)(shi)超聲波(bo)探(tan)傷儀一般由同步、發射、放大、與門(men)、閘門(men)、平面顯示(shi)(shi)器與機械同步組成(cheng),如圖3.20所示(shi)(shi)。


圖 20.jpg


  工(gong)作(zuo)原(yuan)理:同步電路產生(sheng)同步脈沖信(xin)號激(ji)勵換能器產生(sheng)超聲波(bo)信(xin)號,傳遞到工(gong)件中,并同時觸(chu)發閘門電路以獲得(de)閘門信(xin)號。示(shi)(shi)波(bo)管的橫(heng)縱坐(zuo)(zuo)標(biao)分(fen)別(bie)(bie)表示(shi)(shi)工(gong)件探(tan)測(ce)面上的相應(ying)的橫(heng)坐(zuo)(zuo)標(biao)和縱坐(zuo)(zuo)標(biao)。電位(wei)器x和y的直流電壓(ya)分(fen)別(bie)(bie)作(zuo)用于(yu)控制示(shi)(shi)波(bo)管的水(shui)平(ping)和垂直偏(pian)轉(zhuan)板。機械同步將探(tan)頭(tou)與兩個(ge)電位(wei)器實現聯動。探(tan)頭(tou)移(yi)動時,把移(yi)動的X分(fen)量與Y分(fen)量分(fen)別(bie)(bie)施加在水(shui)平(ping)和垂直偏(pian)轉(zhuan)板,偏(pian)轉(zhuan)板電壓(ya)發生(sheng)相應(ying)變化,使屏幕上的坐(zuo)(zuo)標(biao)與工(gong)件探(tan)測(ce)面上的坐(zuo)(zuo)標(biao)相對(dui)應(ying)。


d. 模擬式超(chao)聲波探傷儀的構成及其功能


 模擬式超聲波探傷儀的電(dian)路框圖(tu)如(ru)圖(tu)3.21所示。


圖 21.jpg

(1)組(zu)成(cheng)部(bu)分及(ji)其(qi)作用


    ①. 超聲波探傷儀(yi)的協(xie)調中心是同步電路,它(ta)決定著激勵信號的重復頻率。


    ②. 發射電路主要作(zuo)用(yong)是產(chan)生(sheng)高壓脈沖作(zuo)用(yong)于超聲(sheng)波(bo)(bo)換能器(qi)產(chan)生(sheng)超聲(sheng)波(bo)(bo)。


    ③. 掃描電路使顯示屏上出現條明亮的(de)時基線(xian)(xian),也就(jiu)是時間軸和(he)水平(ping)掃描線(xian)(xian)。它控(kong)制著(zhu)掃描速度,決定(ding)著(zhu)儀器(qi)的(de)檢測范圍(wei)。


   ④. 接收放(fang)大(da)電(dian)路將探頭產(chan)生的(de)微弱回(hui)波信號電(dian)壓放(fang)大(da)到顯(xian)示(shi)屏的(de)縱坐標方向,以顯(xian)示(shi)工(gong)作電(dian)壓。它控制(zhi)著儀器的(de)增益和(he)衰減。


(2)各主(zhu)要開關和旋鈕的作用及其調整(zheng)方(fang)法。


  在模擬式超聲(sheng)波探(tan)傷儀(yi)面板上,合理選用開關(guan)和按(an)鈕可以實現不(bu)同的功(gong)能(neng)。各主(zhu)要開關(guan)和旋鈕的作用及(ji)其調(diao)整(zheng)方法如下:


   ①. 工作方式(shi)選擇旋鈕


   發(fa)(fa)射探(tan)頭(tou)和接收(shou)(shou)(shou)探(tan)頭(tou)分別(bie)連接到發(fa)(fa)射插座(zuo)(zuo)(zuo)和接收(shou)(shou)(shou)插座(zuo)(zuo)(zuo),工作方式(shi)選擇(ze)旋鈕的作用是選擇(ze)檢測方式(shi),即“雙探(tan)”或“單(dan)探(tan)”方式(shi)。當選擇(ze)“雙探(tan)”時,兩個探(tan)頭(tou)的工作模(mo)式(shi)為一發(fa)(fa)一收(shou)(shou)(shou)。當選擇(ze)“單(dan)探(tan)”時,發(fa)(fa)射插座(zuo)(zuo)(zuo)和接收(shou)(shou)(shou)插座(zuo)(zuo)(zuo)內部(bu)連通,單(dan)個探(tan)頭(tou)自(zi)發(fa)(fa)自(zi)收(shou)(shou)(shou)。


  ②. 發射(she)強(qiang)度(du)旋(xuan)鈕


   此(ci)按鈕(niu)主要(yao)改(gai)變激勵脈沖的強度,增(zeng)加或者減小發射功率(lv),增(zeng)大發射強度,有助于提高(gao)儀器(qi)靈敏度。但(dan)脈沖變寬,分辨(bian)力差(cha)。因此(ci),應根據(ju)實際情況(kuang)選擇合(he)適的發射強度。


 ③. 增益旋鈕


   接(jie)(jie)收信(xin)號幅值可(ke)能會非常低,這(zhe)樣(yang)不利于信(xin)號分析(xi),通過調(diao)節(jie)增益(yi)旋(xuan)鈕(niu),可(ke)以(yi)改(gai)變接(jie)(jie)收放大器(qi)的放大倍數(shu)。使(shi)用時(shi),將(jiang)回波高(gao)度精確(que)地(di)調(diao)節(jie)到某一指定(ding)高(gao)度,將(jiang)儀器(qi)靈(ling)敏度確(que)定(ding)以(yi)后,在檢測過程中一般不再調(diao)整(zheng)增益(yi)旋(xuan)鈕(niu)。


  ④. 衰減器


   衰(shuai)(shuai)減(jian)器可以(yi)調(diao)節(jie)(jie)檢測靈(ling)敏度(du)(du)和(he)測量回(hui)(hui)(hui)波(bo)振(zhen)幅(fu)(fu)。用來調(diao)節(jie)(jie)靈(ling)敏度(du)(du)時(shi),衰(shuai)(shuai)減(jian)讀數大,回(hui)(hui)(hui)波(bo)幅(fu)(fu)度(du)(du)低(di);反(fan)之(zhi),靈(ling)敏度(du)(du)高(gao)。用來調(diao)節(jie)(jie)回(hui)(hui)(hui)波(bo)振(zhen)幅(fu)(fu)時(shi),衰(shuai)(shuai)減(jian)讀數大,回(hui)(hui)(hui)波(bo)幅(fu)(fu)度(du)(du)高(gao);反(fan)之(zhi),回(hui)(hui)(hui)波(bo)幅(fu)(fu)度(du)(du)低(di)。


  ⑤. 深度(du)范(fan)圍旋(xuan)鈕(niu)


   此按(an)鈕主要是調節顯示在屏(ping)(ping)幕上(shang)的檢測范圍。可以將顯示在屏(ping)(ping)幕上(shang)的回(hui)波信(xin)號間(jian)距壓縮(suo)或者(zhe)擴展。


  ⑥. 深(shen)度細調旋鈕


   深度細調(diao)旋鈕的作用是精(jing)確調(diao)整檢測范(fan)圍。調(diao)節深度細調(diao)旋鈕,可連續(xu)(xu)改變掃描線的掃描速度,從而使(shi)(shi)顯示屏(ping)上的回波(bo)間距(ju)在(zai)一定范(fan)圍內(nei)連續(xu)(xu)變化。調(diao)整檢測范(fan)圍時,應先將深度粗(cu)調(diao)旋鈕置于合適的檔級,然后調(diao)節深度細調(diao)旋鈕,使(shi)(shi)反射波(bo)的間距(ju)與反射體的距(ju)離成一定比例。


  ⑦. 延(yan)遲(chi)旋鈕


  此(ci)按鈕可以使(shi)顯示(shi)在屏幕上(shang)的(de)回波(bo)信(xin)號大幅度(du)地左(zuo)右移動而(er)不改變(bian)回波(bo)之間的(de)距離。調(diao)(diao)節(jie)檢(jian)測范圍時,先用深度(du)粗調(diao)(diao)旋鈕和深度(du)細(xi)調(diao)(diao)旋鈕調(diao)(diao)節(jie)好回波(bo)間距,再用延遲旋鈕將反射波(bo)調(diao)(diao)至正確(que)位置(zhi),通過延遲旋鈕進行零位校正,使(shi)聲程原點與水平刻度(du)的(de)零點重合。


 ⑧. 聚焦旋鈕


  聚焦旋鈕可(ke)(ke)以調(diao)(diao)節(jie)電子束的粗細(xi)程度,可(ke)(ke)以根據實際情況調(diao)(diao)節(jie),使顯示屏波形清晰。


 ⑨. 水平旋鈕


  水平(ping)旋鈕(niu)也稱(cheng)為零位調節旋鈕(niu)。通過調節水平(ping)旋鈕(niu)使(shi)掃描線(xian)連同(tong)回(hui)波一起(qi)左右(you)移(yi)動一段距(ju)離,回(hui)波之間的距(ju)離不發生改變(bian)。


 ⑩. 重復(fu)頻(pin)率旋鈕(niu)


  此(ci)按鈕調(diao)節的是(shi)激勵脈沖(chong)的重(zhong)復頻率,即激勵脈沖(chong)的發射間隔。當屏幕(mu)上顯(xian)示的圖案比(bi)較暗(an)淡時,可(ke)以提高重(zhong)復頻率,就會使圖案變得更加清晰。


 ?. 垂直旋鈕


  通過調節垂直(zhi)旋鈕使掃描線連同(tong)回波(bo)一起上下移動(dong)一段距離,回波(bo)之(zhi)間的距離不(bu)發生(sheng)改變。


 ?. 深度補償開關(guan)


  此旋鈕的作用是調(diao)節(jie)回(hui)波(bo)增益(yi),減小相同(tong)形狀但不(bu)同(tong)深(shen)度(du)的缺陷的回(hui)波(bo)高度(du)差。


2. 數字式超聲探傷儀


 數(shu)字式超(chao)聲探(tan)傷儀整機由(you)微處理器(qi)(qi)系統(tong)同(tong)步(bu)和控制,由(you)發射、接收、數(shu)控放大器(qi)(qi)單(dan)元(yuan),數(shu)據調整實時采(cai)集、存儲和分(fen)析、處理單(dan)元(yuan)以及(ji)回(hui)波顯示和打印(yin)輸出等組成(cheng)。


a. 數字(zi)式(shi)超(chao)聲探傷儀(yi)與模擬式(shi)超(chao)聲探傷儀(yi)的異同點對比


  ①. 基(ji)本組成(cheng)


 如圖3.22所示(shi)為數字式(shi)超(chao)聲(sheng)(sheng)探傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)的(de)電(dian)(dian)路(lu)框圖,其發射電(dian)(dian)路(lu)與(yu)模(mo)(mo)擬式(shi)超(chao)聲(sheng)(sheng)探傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)相同(tong),接(jie)收放(fang)大(da)電(dian)(dian)路(lu)的(de)衰(shuai)減器與(yu)高頻放(fang)大(da)器等(deng)也與(yu)模(mo)(mo)擬式(shi)超(chao)聲(sheng)(sheng)探傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)相同(tong),信(xin)號放(fang)大(da)后由(you)A/D轉換器轉換成數字信(xin)號,輸送(song)到(dao)微處(chu)理(li)(li)器進行處(chu)理(li)(li),顯(xian)(xian)示(shi)器進行處(chu)理(li)(li),模(mo)(mo)擬式(shi)超(chao)聲(sheng)(sheng)探傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)上的(de)檢波(bo)、濾波(bo)、抑制等(deng)功(gong)能可(ke)以通(tong)過對(dui)數字信(xin)號的(de)處(chu)理(li)(li)來完成。數字式(shi)儀(yi)器的(de)顯(xian)(xian)示(shi)是由(you)微處(chu)理(li)(li)器控制實現逐步(bu)逐點(dian)掃描(miao),在顯(xian)(xian)示(shi)器上顯(xian)(xian)示(shi)二維點(dian)陣(zhen)圖。發射電(dian)(dian)路(lu)與(yu)模(mo)(mo)數轉換由(you)微處(chu)理(li)(li)器協調各部分的(de)工作,不再需要同(tong)步(bu)電(dian)(dian)路(lu)。


圖 22.jpg



 ②. 儀器功能


  數(shu)字式(shi)超聲(sheng)(sheng)探傷儀(yi)的(de)基本功(gong)能與模擬式(shi)超聲(sheng)(sheng)探傷儀(yi)相(xiang)同,各(ge)部(bu)分功(gong)能的(de)控制(zhi)方式(shi)不同。模擬式(shi)超聲(sheng)(sheng)探傷儀(yi)直接通(tong)過開關對儀(yi)器(qi)的(de)電路(lu)進行調整;數(shu)字式(shi)超聲(sheng)(sheng)探傷儀(yi)采用人(ren)機對話,將控制(zhi)數(shu)據輸人(ren)微(wei)處理(li)器(qi),由微(wei)處理(li)器(qi)控制(zhi)各(ge)電路(lu)的(de)工(gong)作(zuo),有利于自動檢查。


 ③. 儀器性能


 兩類(lei)儀器(qi)的發射電路、接(jie)收電路相(xiang)同,因此儀器(qi)的靈(ling)敏度、分辨率基本相(xiang)同。差別(bie)主要是(shi)信號的模(mo)數轉換、處理及顯示部(bu)分,這部(bu)分功能(neng)直接(jie)影響對缺陷的判斷。


 b. 數(shu)字式超聲(sheng)探傷儀(yi)的優缺(que)點


 ①. 優點


 接收信(xin)(xin)號(hao)(hao)數字化(hua),使(shi)(shi)超(chao)聲信(xin)(xin)號(hao)(hao)的(de)存儲、記錄、再現、處理、分析都很方便,可(ke)以使(shi)(shi)超(chao)聲信(xin)(xin)號(hao)(hao)永(yong)久記錄,使(shi)(shi)檢測過程中重現更(geng)方便,同時也能(neng)從(cong)超(chao)聲信(xin)(xin)號(hao)(hao)中得到更(geng)多的(de)量化(hua)信(xin)(xin)息;顯示器(qi)(qi)不需要(yao)傳(chuan)統的(de)示波器(qi)(qi),使(shi)(shi)得儀器(qi)(qi)更(geng)便于小型化(hua);軟件(jian)功(gong)能(neng)可(ke)以擴展,有利于滿足不同使(shi)(shi)用場合的(de)要(yao)求;為自動檢測系統的(de)實現提供條(tiao)件(jian)。


②. 缺點


 模數轉(zhuan)換器的(de)采樣頻率、數據長度、顯(xian)示器的(de)分辨(bian)率等直接影(ying)響(xiang)信(xin)號(hao)的(de)質量,如果信(xin)號(hao)失(shi)真,會造成(cheng)漏檢誤(wu)檢等,因此在使(shi)用過(guo)程中(zhong)應引起(qi)重視。