自動化不(bu)銹鋼(gang)管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢(jian)(jian)測(ce)(ce)探頭是(shi)磁場(chang)傳(chuan)感器(qi)的載體(ti)和組合，是(shi)漏磁檢(jian)(jian)測(ce)(ce)信號的收集器(qi)。隨著漏磁檢(jian)(jian)測(ce)(ce)應用的不(bu)(bu)斷深(shen)入和檢(jian)(jian)測(ce)(ce)要求的逐步提高，除了磁化問(wen)題，另一(yi)個(ge)核心就是(shi)漏磁檢(jian)(jian)測(ce)(ce)探頭的設計。若探頭性能不(bu)(bu)好(hao)或(huo)者(zhe)不(bu)(bu)合適，則(ze)會(hui)出現漏判(pan)或(huo)者(zhe)誤判(pan)，嚴(yan)重影(ying)響漏磁檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的可靠(kao)性。
另一(yi)方面，沒有一(yi)種探(tan)(tan)頭是萬能的(de)。由(you)于自然(ran)缺陷的(de)形態(tai)千變萬化，檢測(ce)探(tan)(tan)頭必(bi)然(ran)存在(zai)局限性，漏判或(huo)誤判的(de)情況在(zai)檢測(ce)實(shi)踐中時有發生。下(xia)面對(dui)檢測(ce)探(tan)(tan)頭的(de)內部結構和檢測(ce)特性進行分析。
一(yi)、漏磁(ci)檢測探頭的結構形(xing)式
目(mu)前，最具代表性的不(bu)銹鋼(gang)管漏(lou)磁(ci)檢(jian)測傳感器有兩種(zhong)：霍爾元(yuan)(yuan)件和(he)感應線圈(quan)，尤其是集成霍爾元(yuan)(yuan)件和(he)光(guang)刻平面線圈(quan)。為(wei)了(le)獲得較高的磁(ci)場(chang)測量空間分辨力(li)和(he)相對寬廣的掃查范圍，檢(jian)測探(tan)頭芯結構有多種(zhong)形式。
1. 點(dian)檢測(ce)形式 在(zai)檢測(ce)探頭中，對某一(yi)點(dian)上(shang)或微小區域(yu)的(de)漏磁場(chang)測(ce)量，并且(qie)每個測(ce)點(dian)對應于一(yi)個獨立的(de)信號通道，如(ru)圖3-6a所示，以下(xia)簡稱為點(dian)檢探頭。很明顯，點(dian)檢探頭中每個點(dian)能夠掃查的(de)檢測(ce)范圍很小，但(dan)空(kong)間分辨力高，如(ru)單個霍(huo)爾元件(jian)的(de)敏感面積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)檢用檢測(ce)線圈也(ye)可(ke)做到(dao)φ1mm內。
2. 線(xian)檢測(ce)(ce)形式 在檢測(ce)(ce)探頭中，對一條線(xian)上的(de)漏磁(ci)場進行綜合(he)測(ce)(ce)量，如圖(tu)3-6b所(suo)示，以下簡(jian)稱為線(xian)檢探頭。例如，用(yong)感(gan)應(ying)線(xian)圈(quan)檢測(ce)(ce)時，將線(xian)圈(quan)做成條狀(zhuang)，則它感(gan)應(ying)的(de)是線(xian)圈(quan)掃(sao)查路徑對應(ying)空間范(fan)圍內(nei)的(de)漏磁(ci)通(tong)(tong)的(de)變化。用(yong)霍(huo)爾(er)元件(jian)檢測(ce)(ce)時，采用(yong)線(xian)陣排列(lie)，將多個元件(jian)檢測(ce)(ce)信號(hao)用(yong)加(jia)法器疊加(jia)后輸出(chu)單個通(tong)(tong)道信號(hao)，則該(gai)信號(hao)反映的(de)是霍(huo)爾(er)元件(jian)線(xian)陣長(chang)度(du)內(nei)的(de)磁(ci)感(gan)應(ying)強度(du)的(de)平均值。
在漏(lou)磁檢(jian)測中，上述兩種形式(shi)(shi)是(shi)最(zui)基本的(de)(de)形式(shi)(shi)，由此(ci)可(ke)以組(zu)合成多種形式(shi)(shi)的(de)(de)探(tan)頭，如圖3-6c所示(shi)的(de)(de)平面(mian)(mian)內的(de)(de)面(mian)(mian)陣列探(tan)頭，以及圖3-6d所示(shi)的(de)(de)多個平面(mian)(mian)上的(de)(de)立體陣列探(tan)頭。
二、漏磁檢(jian)測(ce)探頭(tou)的檢(jian)測(ce)特(te)性(xing)
1. 缺陷(xian)類型
不銹鋼管(guan)在進行漏(lou)磁檢測方法和設備的(de)考核(he)時，常采(cai)用機加工或電火(huo)花方式(shi)刻制標準(zhun)人工缺陷，自(zi)然缺陷可表達(da)成它們的(de)組合形(xing)式(shi)。為便(bian)于(yu)分(fen)(fen)析(xi)和精(jing)確評估，將標準(zhun)缺陷分(fen)(fen)成下列三類。
（1）點(dian)狀缺(que)陷(xian) 點(dian)狀缺(que)陷(xian)的面積小，集中在一點(dian)或小圈(quan)內，如(ru)標準缺(que)陷(xian)里(li)的通孔，自然缺(que)陷(xian)里(li)的蝕(shi)坑、斑點(dian)、氣(qi)孔等(deng)，它們產生的漏(lou)磁場是(shi)一個(ge)集中的點(dian)團狀場，分(fen)布(bu)范圍小。
（2）線(xian)(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷 線(xian)(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷的(de)寬(kuan)長比(bi)很小，形成一條線(xian)(xian)，如標準缺陷里的(de)矩形刻槽(cao)、自然缺陷里的(de)裂紋等，它們產(chan)生(sheng)的(de)漏磁場(chang)(chang)是沿(yan)線(xian)(xian)條的(de)帶狀(zhuang)(zhuang)場(chang)(chang)。
（3）體狀缺(que)陷(xian)(xian)(xian) 體狀缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的長、寬、深尺寸均(jun)較大，形(xing)成坑(keng)或窩，如標(biao)準(zhun)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)中(zhong)的大不通孔、自然(ran)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)里(li)的片(pian)狀腐(fu)蝕(shi)等(deng)，它們產生的漏磁(ci)場分(fen)布(bu)范圍廣。
2. 不同(tong)結構探頭的檢(jian)測(ce)特(te)性
不(bu)(bu)銹鋼(gang)管在漏(lou)磁檢測(ce)中，特別要強(qiang)調(diao)空間和方向的(de)概念。因(yin)為，漏(lou)磁場(chang)是空間場(chang)，且具有(you)方向性；漏(lou)磁檢測(ce)信號是時間域(yu)的(de)，且沒有(you)相位信息；不(bu)(bu)僅檢測(ce)探(tan)頭具有(you)敏感方向，而(er)且檢測(ce)探(tan)頭的(de)掃(sao)查(cha)路(lu)徑也具有(you)方向性，不(bu)(bu)同方向均會(hui)對檢測(ce)信號及其特征(zheng)產生影響。
另一方面，應該特(te)別(bie)注意缺陷漏磁(ci)(ci)場(chang)(chang)(chang)的(de)(de)表征形式，在這里(li)，漏磁(ci)(ci)場(chang)(chang)(chang)強(qiang)度和(he)漏磁(ci)(ci)場(chang)(chang)(chang)梯度存在著本質的(de)(de)不(bu)同(tong)。霍爾(er)元(yuan)件和(he)感(gan)(gan)應線(xian)圈兩種(zhong)器件的(de)(de)應用也有著根本的(de)(de)區別(bie)。霍爾(er)元(yuan)件可以測量空間某點上的(de)(de)磁(ci)(ci)場(chang)(chang)(chang)強(qiang)度，而感(gan)(gan)應線(xian)圈卻無法實現(xian)；感(gan)(gan)應線(xian)圈感(gan)(gan)應的(de)(de)是(shi)空間一定(ding)范(fan)圍內的(de)(de)磁(ci)(ci)通量的(de)(de)變化程度，相反，霍爾(er)元(yuan)件不(bu)可以測量磁(ci)(ci)通量的(de)(de)變化，它測量的(de)(de)是(shi)一定(ding)空間范(fan)圍內的(de)(de)磁(ci)(ci)感(gan)(gan)應強(qiang)度的(de)(de)平均值。
下面將逐一分析兩種基本探(tan)頭形式對(dui)不同類型缺陷的檢(jian)測信(xin)號特性。
a. 點檢探頭的信號特性
點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭測(ce)量的(de)是(shi)空間某點(dian)(dian)(dian)上的(de)漏磁感應強度(du)或磁通量的(de)變化(hua)。點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭對點(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)是(shi)“針尖(jian)對麥(mai)芒”，空間相對位置(zhi)的(de)微小變化(hua)，均(jun)有可(ke)能引(yin)起檢(jian)(jian)測(ce)信號(hao)幅度(du)的(de)波動。點(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)漏磁場分(fen)布是(shi)尖(jian)峰狀(zhuang)的(de)，當點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭正對峰頂(ding)時(shi)，信號(hao)幅度(du)最(zui)大，偏離時(shi)信號(hao)幅度(du)將急劇下(xia)降(jiang)。因此，用點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭去檢(jian)(jian)測(ce)點(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)時(shi)將會產生(sheng)不穩定的(de)信號(hao)，導致誤判(pan)或漏判(pan)。進行(xing)檢(jian)(jian)測(ce)設備(bei)標定時(shi)，也難將各通道的(de)靈敏度(du)調(diao)整到一致。
點檢(jian)探頭檢(jian)測線狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)時，很容易掃查到線狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)產生的(de)(de)“山脈”狀(zhuang)漏磁場的(de)(de)某一(yi)個縱斷(duan)面，檢(jian)測信(xin)號幅度(du)將正比于線狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)深(shen)度(du)。當線狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)長度(du)大于一(yi)定(ding)值(zhi)時，設備標定(ding)或檢(jian)測信(xin)號的(de)(de)一(yi)致性和穩定(ding)性均較(jiao)好。
b. 線檢探頭的信(xin)號特(te)性
線檢探(tan)頭(tou)(tou)測(ce)量的(de)(de)(de)是探(tan)頭(tou)(tou)長(chang)度(du)范(fan)圍內的(de)(de)(de)平均磁感應強(qiang)度(du)或磁通量的(de)(de)(de)變化(hua)。與(yu)點檢探(tan)頭(tou)(tou)相比，線檢探(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)輸出信(xin)(xin)(xin)號特性不但(dan)與(yu)缺(que)陷的(de)(de)(de)深度(du)有關，而且與(yu)缺(que)陷的(de)(de)(de)長(chang)度(du)有關，最終與(yu)缺(que)陷缺(que)失的(de)(de)(de)截面積成比例。這類探(tan)頭(tou)(tou)不能(neng)直接獲(huo)得與(yu)缺(que)陷深度(du)相關的(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)息(xi)，因為(wei)長(chang)而淺的(de)(de)(de)缺(que)陷與(yu)短(duan)而深的(de)(de)(de)缺(que)陷在檢測(ce)信(xin)(xin)(xin)號幅度(du)上有可能(neng)是一樣的(de)(de)(de)。
線檢(jian)探(tan)頭(tou)對點狀缺陷(xian)的檢(jian)測(ce)是“滴(di)水不(bu)漏”。由(you)于(yu)(yu)線檢(jian)探(tan)頭(tou)的長度(du)遠大于(yu)(yu)點狀缺陷(xian)的長度(du)，在(zai)檢(jian)測(ce)路徑上，缺陷(xian)相對于(yu)(yu)探(tan)頭(tou)位置(zhi)變化(hua)時，不(bu)會影響檢(jian)測(ce)信號的幅度(du)，因(yin)而一(yi)致性較好(hao)。
線(xian)檢探(tan)(tan)頭檢測線(xian)狀缺陷時，情況較為復雜，探(tan)(tan)頭與缺陷的長(chang)度比(bi)以及位置(zhi)關系均會(hui)影(ying)響信號幅值。下面(mian)舉例(li)分(fen)析。
如(ru)圖3-7a所示(shi)，用有效長度(du)為(wei)(wei)25mm的(de)(de)(de)線(xian)檢(jian)探(tan)頭(tou)檢(jian)測(ce)25mm長的(de)(de)(de)刻槽(cao)。當探(tan)頭(tou)正對刻槽(cao)時，獲得(de)最大的(de)(de)(de)信號(hao)幅值(zhi)；當探(tan)頭(tou)與刻槽(cao)的(de)(de)(de)位置錯(cuo)開時，信號(hao)幅值(zhi)將隨(sui)著探(tan)頭(tou)與缺(que)陷(xian)交(jiao)叉重疊程(cheng)度(du)的(de)(de)(de)減小而減弱，此種狀(zhuang)(zhuang)態對檢(jian)測(ce)是不(bu)利(li)的(de)(de)(de)，不(bu)論(lun)是設(she)備標(biao)定還是檢(jian)測(ce)應用均很難獲得(de)一致的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)信號(hao)。圖3-7中左邊的(de)(de)(de)粗線(xian)段(duan)為(wei)(wei)線(xian)檢(jian)探(tan)頭(tou)，中間的(de)(de)(de)細線(xian)段(duan)為(wei)(wei)不(bu)同(tong)位置的(de)(de)(de)線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)，右邊為(wei)(wei)不(bu)同(tong)探(tan)頭(tou)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)信號(hao)幅度(du)。為(wei)(wei)實現線(xian)檢(jian)探(tan)頭(tou)的(de)(de)(de)一致性檢(jian)測(ce)，有如(ru)下兩種做法：
①. 減(jian)小(xiao)線檢(jian)探(tan)頭(tou)的(de)有效長度，讓它小(xiao)于或等于線狀缺陷長度的(de)一(yi)半，同(tong)時將相鄰檢(jian)測探(tan)頭(tou)按50％重疊布置，如圖3-7b所(suo)示。可(ke)以看出，不論缺陷從哪個(ge)路徑(jing)通過探(tan)頭(tou)陣(zhen)列(lie)，均可(ke)在(zai)某一(yi)檢(jian)測單元中獲得(de)一(yi)個(ge)最大的(de)信號幅(fu)值，而在(zai)其(qi)他檢(jian)測單元中得(de)到(dao)較小(xiao)的(de)信號幅(fu)值。
此(ci)時，由于線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)長(chang)度(du)遠大(da)于探(tan)(tan)頭(tou)長(chang)度(du)，檢(jian)(jian)(jian)測(ce)探(tan)(tan)頭(tou)測(ce)量的是漏磁場(chang)“山(shan)脈”中的某一(yi)段(duan)，如果(guo)線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)深(shen)度(du)一(yi)致，它可以直接反(fan)映出深(shen)度(du)信息。將線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)的長(chang)度(du)再(zai)不(bu)斷縮小，線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)則變成(cheng)點檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)。此(ci)時，在采用(yong)標準人工缺(que)陷(xian)進行(xing)設備標定時，任何狀(zhuang)態均可得到一(yi)致的檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢測方法測量的(de)是線(xian)狀缺(que)陷(xian)的(de)平均磁感應強度，因而(er)，它反(fan)映不了(le)線(xian)狀缺(que)陷(xian)的(de)深度信息。當缺(que)陷(xian)的(de)長度逐漸減(jian)小時，則轉變成線(xian)檢探頭對點狀缺(que)陷(xian)的(de)檢測。
3. 面(mian)向對象的檢測(ce)探頭(tou)設計和選用
在漏(lou)磁檢測中，應該根(gen)據具體的檢測要求來(lai)設計(ji)和選(xuan)擇合(he)適的探頭芯結構，下面給出幾種探頭設計(ji)和選(xuan)用原則。
a. 缺(que)陷的(de)(de)深度(du)(du)檢(jian)測(ce)(ce)應該選擇點(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭 點(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭反(fan)映的(de)(de)是局部磁(ci)感應強度(du)(du)或其變化。當(dang)裂紋較(jiao)長(chang)(chang)時，測(ce)(ce)點(dian)(dian)相當(dang)于(yu)對(dui)無(wu)限長(chang)(chang)矩形(xing)槽(cao)的(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)，因而，測(ce)(ce)點(dian)(dian)的(de)(de)信號幅度(du)(du)與(yu)缺(que)陷深度(du)(du)密切相關。但是，當(dang)線狀缺(que)陷越(yue)來越(yue)短時，測(ce)(ce)量的(de)(de)誤差(cha)也就越(yue)來越(yue)大(da)，特別地，對(dui)點(dian)(dian)狀缺(que)陷的(de)(de)深度(du)(du)探(tan)測(ce)(ce)幾乎(hu)不可(ke)能。
在鋼管漏(lou)磁(ci)檢測(ce)校(xiao)樣(yang)過程中，一般均(jun)以通(tong)(tong)孔作為(wei)標定試(shi)樣(yang)上的(de)標準(zhun)缺陷，這(zhe)樣(yang)，大(da)、小(xiao)孔的(de)深(shen)度(du)(du)一致，孔徑(jing)(jing)尺寸反(fan)映出缺失截面積的(de)線(xian)性變(bian)化，因而，漏(lou)磁(ci)磁(ci)通(tong)(tong)量也將發生線(xian)性變(bian)化。對(dui)于不(bu)通(tong)(tong)孔，當孔的(de)深(shen)度(du)(du)和直徑(jing)(jing)均(jun)為(wei)變(bian)量時，僅(jin)通(tong)(tong)過尋找孔深(shen)與(yu)孔徑(jing)(jing)的(de)乘積與(yu)信號幅度(du)(du)關(guan)系去反(fan)演或推算深(shen)度(du)(du)是(shi)不(bu)可能的(de)。這(zhe)也是(shi)僅(jin)采用(yong)漏(lou)磁(ci)方法進行(xing)檢測(ce)的(de)不(bu)足。
b. 缺(que)陷的損失(shi)截(jie)面(mian)積檢測(ce)(ce)應該選擇線(xian)檢探頭 線(xian)檢探頭的信(xin)號幅(fu)度與(yu)缺(que)陷損失(shi)的截(jie)面(mian)積成比例，因而有較(jiao)好(hao)的測(ce)(ce)量(liang)精度。在有些檢測(ce)(ce)對象中應用較(jiao)好(hao)。
c. 缺陷(xian)(xian)的長(chang)度(du)檢(jian)測應該用點(dian)(dian)檢(jian)探頭(tou)陣列或(huo)點(dian)(dian)線(xian)組合式探頭(tou) 點(dian)(dian)檢(jian)探頭(tou)敏感于(yu)缺陷(xian)(xian)的深(shen)(shen)度(du)，當(dang)采(cai)用點(dian)(dian)檢(jian)探頭(tou)陣列時，缺陷(xian)(xian)長(chang)度(du)覆(fu)蓋的通道數量可(ke)以(yi)反(fan)映其長(chang)度(du)信息；另一方(fang)面，當(dang)線(xian)檢(jian)探頭(tou)大于(yu)缺陷(xian)(xian)的長(chang)度(du)時，感應的是深(shen)(shen)度(du)和長(chang)度(du)的共(gong)同(tong)信息，如在其感應范圍內并列布置一個或(huo)多(duo)個點(dian)(dian)檢(jian)探頭(tou)感受深(shen)(shen)度(du)信息，則裂紋(wen)的長(chang)度(du)就(jiu)可(ke)以(yi)計算出來。
從信(xin)號處理角度來(lai)看，點(dian)線(xian)組(zu)合式(shi)探頭需(xu)要的通道(dao)數量較少，可以同時獲得缺(que)陷的深度、長度、缺(que)失截面積等信(xin)息，具有較強的應用(yong)價值(zhi)。
d. 斜向裂紋采用(yong)點檢(jian)探(tan)頭陣(zhen)列檢(jian)測 在漏磁檢(jian)測中(zhong)，當缺陷走向與磁化場(chang)方向不(bu)垂(chui)直時，漏磁場(chang)的強度(du)將降低，從(cong)而獲得較(jiao)小的信(xin)號(hao)幅值。因此，斜向缺陷的檢(jian)測與評估，需要首先檢(jian)測出(chu)裂紋的走向，并且根據走向修正漏磁場(chang)信(xin)號(hao)幅度(du)，再進行深度(du)判(pan)別。
另一(yi)方面(mian)，當探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)掃查路徑(jing)垂直于缺陷(xian)走向時，檢(jian)測信號(hao)(hao)(hao)幅(fu)(fu)值(zhi)最(zui)大；隨著兩者夾(jia)角不斷減小(xiao)，檢(jian)測信號(hao)(hao)(hao)幅(fu)(fu)值(zhi)逐漸(jian)降低，同(tong)時信號(hao)(hao)(hao)特性(xing)(xing)也(ye)將發生明顯變(bian)化。此時，線檢(jian)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)的檢(jian)測信號(hao)(hao)(hao)特性(xing)(xing)變(bian)化很(hen)大，點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)的信號(hao)(hao)(hao)幅(fu)(fu)度波動(dong)卻(que)很(hen)小(xiao)。因此，可利用點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)陣列中(zhong)各通(tong)道獲(huo)得最(zui)大幅(fu)(fu)值(zhi)的時間差(cha)異來推算(suan)缺陷(xian)走向，為后續的信號(hao)(hao)(hao)補(bu)償與缺陷(xian)判別(bie)奠(dian)定基礎，如圖(tu)3-8所示。
漏(lou)磁設備的檢測(ce)能力(li)與探(tan)頭芯結構密切相關，從目前應(ying)用情況來看，漏(lou)磁檢測(ce)方(fang)法(fa)(fa)對(dui)內外部腐(fu)蝕(shi)坑、內外部周／軸(zhou)向裂(lie)紋(wen)(wen)均(jun)有較(jiao)好的檢測(ce)精度，同時，對(dui)斜向裂(lie)紋(wen)(wen)具有一定的檢測(ce)能力(li)。但是，漏(lou)磁檢測(ce)方(fang)法(fa)(fa)對(dui)微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)，如初期的疲(pi)勞(lao)裂(lie)紋(wen)(wen)、熱處理的應(ying)力(li)裂(lie)紋(wen)(wen)、軋制時的微(wei)機械裂(lie)紋(wen)(wen)和折疊不太敏(min)感。究其原因，微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)的開(kai)口均(jun)小于0.05mm，漏(lou)磁場(chang)強度較(jiao)低，因此，有必(bi)要輔以渦(wo)流(liu)、超聲等其他檢測(ce)方(fang)法(fa)(fa)。
我國進口漏磁(ci)檢(jian)測設備采用的(de)基(ji)本都是(shi)基(ji)于線圈的(de)線檢(jian)探(tan)頭，這種配置需要(yao)的(de)信號通道(dao)數量相對(dui)較(jiao)少、探(tan)靴的(de)有效覆蓋范圍(wei)大。但(dan)是(shi)，這種方式(shi)對(dui)缺(que)陷的(de)深度評定需要(yao)一(yi)定的(de)輔助(zhu)條件，而且對(dui)斜向缺(que)陷的(de)檢(jian)測靈敏度較(jiao)低(di)。
在具體(ti)應(ying)(ying)用過程中，首先應(ying)(ying)分(fen)析檢測要(yao)求(qiu)和(he)(he)對象特點(dian)(dian)，其次要(yao)認(ren)識(shi)探(tan)頭(tou)芯(xin)的(de)(de)形式和(he)(he)結構。總的(de)(de)來講，采用線(xian)檢探(tan)頭(tou)去檢測線(xian)狀缺陷(xian)的(de)(de)深度信(xin)息和(he)(he)采用點(dian)(dian)檢探(tan)頭(tou)去評定點(dian)(dian)狀缺陷(xian)的(de)(de)長度信(xin)息均是不現實(shi)的(de)(de)；高精度的(de)(de)檢測需要(yao)以大量的(de)(de)獨立測量通道和(he)(he)信(xin)號處理(li)系統為代價，因此，應(ying)(ying)根據檢測目標綜合權衡。
