自動化不(bu)銹鋼(gang)管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列(lie)檢(jian)測(ce)探(tan)頭是磁場傳感器的載(zai)體和組合，是漏(lou)(lou)磁檢(jian)測(ce)信(xin)號的收集(ji)器。隨著(zhu)漏(lou)(lou)磁檢(jian)測(ce)應(ying)用的不斷深入和檢(jian)測(ce)要求(qiu)的逐步提(ti)高，除了磁化(hua)問題(ti)，另一個(ge)核心就是漏(lou)(lou)磁檢(jian)測(ce)探(tan)頭的設(she)計。若探(tan)頭性能不好或(huo)者不合適，則會出現漏(lou)(lou)判或(huo)者誤判，嚴重影響(xiang)漏(lou)(lou)磁檢(jian)測(ce)的可靠性。
另一方面，沒(mei)有一種探頭(tou)(tou)是萬能的(de)。由于自然缺陷的(de)形態千(qian)變萬化，檢(jian)測(ce)探頭(tou)(tou)必然存在局限性，漏判(pan)或誤(wu)判(pan)的(de)情(qing)況在檢(jian)測(ce)實踐中時有發生。下面對檢(jian)測(ce)探頭(tou)(tou)的(de)內部(bu)結構和檢(jian)測(ce)特性進行分(fen)析。
一、漏磁檢測探(tan)頭的結構形式
目前，最具(ju)代表性的(de)不銹鋼(gang)管漏磁檢測傳(chuan)感器(qi)有兩種：霍(huo)爾元件(jian)和(he)感應線圈(quan)，尤其(qi)是集成霍(huo)爾元件(jian)和(he)光(guang)刻(ke)平面線圈(quan)。為了獲(huo)得較高的(de)磁場測量空間分辨力和(he)相對寬廣的(de)掃查范圍，檢測探頭(tou)芯結構(gou)有多種形式(shi)。
1. 點(dian)(dian)檢(jian)測(ce)形(xing)式(shi) 在檢(jian)測(ce)探頭中(zhong)，對某(mou)一(yi)點(dian)(dian)上或微小區域的漏磁場(chang)測(ce)量，并(bing)且每個(ge)測(ce)點(dian)(dian)對應于一(yi)個(ge)獨立(li)的信號通道(dao)，如圖(tu)3-6a所示，以下簡稱(cheng)為點(dian)(dian)檢(jian)探頭。很(hen)明顯，點(dian)(dian)檢(jian)探頭中(zhong)每個(ge)點(dian)(dian)能夠掃查的檢(jian)測(ce)范圍(wei)很(hen)小，但空間分辨力高，如單(dan)個(ge)霍爾元件(jian)的敏感面積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)檢(jian)用檢(jian)測(ce)線圈也可做到φ1mm內。
2. 線(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)形(xing)式 在檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)探頭中，對(dui)一條(tiao)線(xian)(xian)上的(de)(de)(de)漏磁(ci)(ci)場進(jin)行綜合(he)測(ce)量，如(ru)圖3-6b所(suo)示，以下(xia)簡稱為(wei)線(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探頭。例如(ru)，用感(gan)應(ying)線(xian)(xian)圈(quan)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)時，將線(xian)(xian)圈(quan)做成條(tiao)狀(zhuang)，則它感(gan)應(ying)的(de)(de)(de)是線(xian)(xian)圈(quan)掃查路徑對(dui)應(ying)空間范圍內的(de)(de)(de)漏磁(ci)(ci)通的(de)(de)(de)變(bian)化。用霍爾(er)元件(jian)(jian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)時，采用線(xian)(xian)陣排列，將多個元件(jian)(jian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)信(xin)號(hao)用加(jia)(jia)法器(qi)疊加(jia)(jia)后輸出單個通道信(xin)號(hao)，則該信(xin)號(hao)反映(ying)的(de)(de)(de)是霍爾(er)元件(jian)(jian)線(xian)(xian)陣長度內的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)強(qiang)度的(de)(de)(de)平均值。
在漏磁檢測中(zhong)，上述兩(liang)種(zhong)形(xing)式(shi)(shi)(shi)是(shi)最基(ji)本的(de)形(xing)式(shi)(shi)(shi)，由此可以(yi)組合成多種(zhong)形(xing)式(shi)(shi)(shi)的(de)探頭，如圖(tu)(tu)3-6c所示的(de)平面(mian)內的(de)面(mian)陣列探頭，以(yi)及(ji)圖(tu)(tu)3-6d所示的(de)多個平面(mian)上的(de)立體陣列探頭。
二、漏磁檢(jian)測探頭的檢(jian)測特性(xing)
1. 缺陷(xian)類型
不(bu)銹鋼管在進行漏(lou)磁檢(jian)測方法(fa)和(he)設(she)備的(de)考核時，常采用機加工或電火花方式(shi)刻制標(biao)準(zhun)人工缺陷(xian)(xian)，自然缺陷(xian)(xian)可表達(da)成(cheng)它們的(de)組(zu)合形式(shi)。為便于分(fen)析(xi)和(he)精確評估，將標(biao)準(zhun)缺陷(xian)(xian)分(fen)成(cheng)下列三類。
（1）點(dian)(dian)狀缺陷(xian) 點(dian)(dian)狀缺陷(xian)的(de)面積小(xiao)，集中在一(yi)點(dian)(dian)或小(xiao)圈內，如標準(zhun)缺陷(xian)里(li)的(de)通孔(kong)，自然(ran)缺陷(xian)里(li)的(de)蝕坑、斑點(dian)(dian)、氣孔(kong)等，它們產生(sheng)的(de)漏磁場(chang)是一(yi)個集中的(de)點(dian)(dian)團狀場(chang)，分布范圍小(xiao)。
（2）線(xian)(xian)狀缺(que)(que)陷(xian)(xian) 線(xian)(xian)狀缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)寬長(chang)比很小，形(xing)成一條線(xian)(xian)，如標準缺(que)(que)陷(xian)(xian)里(li)的(de)矩形(xing)刻槽、自然缺(que)(que)陷(xian)(xian)里(li)的(de)裂紋等，它們產生(sheng)的(de)漏磁場是(shi)沿線(xian)(xian)條的(de)帶狀場。
（3）體(ti)狀缺(que)陷(xian) 體(ti)狀缺(que)陷(xian)的長、寬、深尺寸(cun)均(jun)較(jiao)大，形成坑或窩，如標(biao)準缺(que)陷(xian)中的大不通孔、自(zi)然缺(que)陷(xian)里的片狀腐蝕(shi)等(deng)，它們(men)產生(sheng)的漏磁場分(fen)布范圍廣。
2. 不同(tong)結構探頭的(de)檢(jian)測特(te)性
不銹鋼(gang)管在(zai)漏磁(ci)檢(jian)測(ce)(ce)中，特別要強調空(kong)間和方向(xiang)的概(gai)念。因(yin)為，漏磁(ci)場是空(kong)間場，且具有(you)方向(xiang)性；漏磁(ci)檢(jian)測(ce)(ce)信號是時間域(yu)的，且沒有(you)相位信息；不僅檢(jian)測(ce)(ce)探頭(tou)具有(you)敏感方向(xiang)，而且檢(jian)測(ce)(ce)探頭(tou)的掃查路徑也具有(you)方向(xiang)性，不同方向(xiang)均會(hui)對檢(jian)測(ce)(ce)信號及其(qi)特征產生影響。
另一(yi)方面，應該特別(bie)注(zhu)意缺陷漏(lou)磁(ci)(ci)場(chang)(chang)的(de)(de)(de)表(biao)征形(xing)式，在這里，漏(lou)磁(ci)(ci)場(chang)(chang)強(qiang)(qiang)(qiang)度和(he)漏(lou)磁(ci)(ci)場(chang)(chang)梯(ti)度存(cun)在著本(ben)質的(de)(de)(de)不同。霍爾(er)元件(jian)和(he)感(gan)應線(xian)圈兩種器件(jian)的(de)(de)(de)應用(yong)也有(you)著根本(ben)的(de)(de)(de)區(qu)別(bie)。霍爾(er)元件(jian)可(ke)以(yi)測量(liang)(liang)空間某(mou)點上的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)場(chang)(chang)強(qiang)(qiang)(qiang)度，而感(gan)應線(xian)圈卻(que)無法實現；感(gan)應線(xian)圈感(gan)應的(de)(de)(de)是空間一(yi)定范圍(wei)內的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)通量(liang)(liang)的(de)(de)(de)變化程度，相(xiang)反，霍爾(er)元件(jian)不可(ke)以(yi)測量(liang)(liang)磁(ci)(ci)通量(liang)(liang)的(de)(de)(de)變化，它測量(liang)(liang)的(de)(de)(de)是一(yi)定空間范圍(wei)內的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)感(gan)應強(qiang)(qiang)(qiang)度的(de)(de)(de)平均值。
下面將逐一分析兩種基本探頭(tou)形(xing)式對不同類型(xing)缺陷(xian)的(de)檢測(ce)信號特性。
a. 點檢探頭(tou)的信號特(te)性
點檢(jian)探頭測量(liang)的(de)(de)是空(kong)(kong)間(jian)某點上(shang)的(de)(de)漏磁(ci)感應強度(du)或磁(ci)通量(liang)的(de)(de)變化(hua)。點檢(jian)探頭對點狀缺陷(xian)的(de)(de)檢(jian)測是“針尖對麥芒”，空(kong)(kong)間(jian)相對位(wei)置的(de)(de)微小(xiao)變化(hua)，均有可能引起檢(jian)測信號幅度(du)的(de)(de)波動。點狀缺陷(xian)的(de)(de)漏磁(ci)場分布是尖峰狀的(de)(de)，當(dang)點檢(jian)探頭正(zheng)對峰頂時(shi)(shi)，信號幅度(du)最大，偏離時(shi)(shi)信號幅度(du)將(jiang)急劇下降。因此，用點檢(jian)探頭去檢(jian)測點狀缺陷(xian)時(shi)(shi)將(jiang)會產生不(bu)穩定(ding)的(de)(de)信號，導(dao)致(zhi)誤判(pan)或漏判(pan)。進行檢(jian)測設(she)備標定(ding)時(shi)(shi)，也難將(jiang)各通道的(de)(de)靈敏(min)度(du)調整到一致(zhi)。
點檢(jian)(jian)探頭檢(jian)(jian)測線狀缺(que)陷(xian)時(shi)，很容易(yi)掃查到(dao)線狀缺(que)陷(xian)產(chan)生的(de)“山脈”狀漏磁(ci)場的(de)某一個縱(zong)斷(duan)面，檢(jian)(jian)測信(xin)號幅(fu)度將正比于線狀缺(que)陷(xian)的(de)深度。當線狀缺(que)陷(xian)長(chang)度大于一定(ding)(ding)值時(shi)，設備(bei)標(biao)定(ding)(ding)或(huo)檢(jian)(jian)測信(xin)號的(de)一致(zhi)性(xing)和穩定(ding)(ding)性(xing)均(jun)較好。
b. 線檢探頭的信號特(te)性
線檢(jian)探(tan)頭(tou)測量的(de)(de)是探(tan)頭(tou)長(chang)度范圍(wei)內的(de)(de)平均(jun)磁感應強(qiang)度或磁通量的(de)(de)變化。與(yu)點檢(jian)探(tan)頭(tou)相(xiang)比(bi)，線檢(jian)探(tan)頭(tou)的(de)(de)輸出信(xin)號特性不(bu)但與(yu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)深(shen)(shen)度有(you)關(guan)(guan)，而且(qie)與(yu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)長(chang)度有(you)關(guan)(guan)，最終(zhong)與(yu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)缺(que)(que)失(shi)的(de)(de)截面(mian)積成比(bi)例。這類探(tan)頭(tou)不(bu)能直接獲得與(yu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)深(shen)(shen)度相(xiang)關(guan)(guan)的(de)(de)信(xin)息，因(yin)為長(chang)而淺的(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)與(yu)短而深(shen)(shen)的(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)在檢(jian)測信(xin)號幅度上有(you)可能是一(yi)樣的(de)(de)。
線檢探(tan)頭(tou)對點狀缺陷(xian)(xian)的檢測(ce)是“滴水(shui)不漏”。由于(yu)線檢探(tan)頭(tou)的長(chang)度(du)遠(yuan)大于(yu)點狀缺陷(xian)(xian)的長(chang)度(du)，在(zai)檢測(ce)路徑(jing)上，缺陷(xian)(xian)相對于(yu)探(tan)頭(tou)位置變化時，不會影響檢測(ce)信號的幅(fu)度(du)，因而一(yi)致性較好(hao)。
線(xian)檢探頭(tou)檢測線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷時，情況較為復(fu)雜(za)，探頭(tou)與(yu)缺(que)陷的長度比以(yi)及位置(zhi)關系均會影響信號幅值(zhi)。下面舉(ju)例分析。
如圖3-7a所示，用有效長(chang)(chang)度(du)為25mm的(de)(de)線(xian)(xian)(xian)檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)檢測(ce)25mm長(chang)(chang)的(de)(de)刻(ke)槽。當探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)正對刻(ke)槽時，獲得最(zui)大的(de)(de)信(xin)號(hao)幅值(zhi)；當探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)與(yu)刻(ke)槽的(de)(de)位置錯開時，信(xin)號(hao)幅值(zhi)將(jiang)隨著探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)與(yu)缺陷(xian)交叉重(zhong)疊(die)程(cheng)度(du)的(de)(de)減小而減弱，此種狀態對檢測(ce)是不(bu)利(li)的(de)(de)，不(bu)論是設備(bei)標定(ding)還是檢測(ce)應用均很難獲得一致的(de)(de)檢測(ce)信(xin)號(hao)。圖3-7中(zhong)左邊的(de)(de)粗(cu)線(xian)(xian)(xian)段為線(xian)(xian)(xian)檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)，中(zhong)間的(de)(de)細線(xian)(xian)(xian)段為不(bu)同位置的(de)(de)線(xian)(xian)(xian)狀缺陷(xian)，右邊為不(bu)同探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)的(de)(de)檢測(ce)信(xin)號(hao)幅度(du)。為實現線(xian)(xian)(xian)檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)的(de)(de)一致性檢測(ce)，有如下兩種做法(fa)：
①. 減小線(xian)檢(jian)探頭(tou)的有(you)效長度，讓它小于或(huo)等于線(xian)狀缺(que)陷(xian)長度的一(yi)半，同(tong)時將(jiang)相鄰檢(jian)測探頭(tou)按(an)50％重疊布置(zhi)，如(ru)圖(tu)3-7b所(suo)示。可以看出，不論(lun)缺(que)陷(xian)從哪個路徑通(tong)過探頭(tou)陣列，均(jun)可在某一(yi)檢(jian)測單元中(zhong)獲得(de)一(yi)個最大的信號(hao)幅(fu)值，而在其他(ta)檢(jian)測單元中(zhong)得(de)到較小的信號(hao)幅(fu)值。
此(ci)時(shi)，由于(yu)線(xian)狀缺陷(xian)長(chang)度(du)(du)遠大于(yu)探(tan)(tan)頭長(chang)度(du)(du)，檢測探(tan)(tan)頭測量(liang)的(de)是漏(lou)磁(ci)場“山脈”中的(de)某(mou)一(yi)段，如果線(xian)狀缺陷(xian)深度(du)(du)一(yi)致，它可以直接反映(ying)出深度(du)(du)信息(xi)。將線(xian)檢探(tan)(tan)頭的(de)長(chang)度(du)(du)再不斷(duan)縮小，線(xian)檢探(tan)(tan)頭則變成(cheng)點檢探(tan)(tan)頭。此(ci)時(shi)，在(zai)采用標準人(ren)工缺陷(xian)進行設備標定時(shi)，任何狀態均可得到(dao)一(yi)致的(de)檢測信號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種(zhong)檢(jian)測(ce)(ce)方法測(ce)(ce)量的(de)是(shi)線狀缺陷的(de)平均磁感(gan)應(ying)強度，因而，它反映不了線狀缺陷的(de)深(shen)度信息。當缺陷的(de)長度逐漸減小時，則轉(zhuan)變成線檢(jian)探頭對點狀缺陷的(de)檢(jian)測(ce)(ce)。
3. 面向對象的檢測探頭設計和選用
在漏磁檢(jian)測中，應(ying)該(gai)根據具體的(de)檢(jian)測要求(qiu)來設計和(he)選擇(ze)合適的(de)探頭(tou)芯結(jie)構，下面(mian)給出幾(ji)種探頭(tou)設計和(he)選用(yong)原則。
a. 缺(que)(que)陷的深(shen)度檢測應(ying)該選擇點(dian)檢探(tan)頭 點(dian)檢探(tan)頭反映的是(shi)局部磁感應(ying)強度或其變化。當裂紋較長時(shi)，測點(dian)相當于對(dui)無(wu)限長矩形槽的探(tan)測，因(yin)而，測點(dian)的信(xin)號(hao)幅度與缺(que)(que)陷深(shen)度密切相關。但是(shi)，當線(xian)狀缺(que)(que)陷越(yue)來(lai)(lai)越(yue)短時(shi)，測量的誤差也就越(yue)來(lai)(lai)越(yue)大，特別地，對(dui)點(dian)狀缺(que)(que)陷的深(shen)度探(tan)測幾乎不可能。
在鋼管漏磁檢(jian)測(ce)校樣過程中，一(yi)般均以通(tong)(tong)孔(kong)(kong)(kong)作(zuo)為標定(ding)試樣上(shang)的(de)標準缺(que)陷，這樣，大、小孔(kong)(kong)(kong)的(de)深(shen)(shen)度(du)一(yi)致(zhi)，孔(kong)(kong)(kong)徑(jing)尺寸反映出缺(que)失截面積(ji)的(de)線性(xing)變化(hua)，因而，漏磁磁通(tong)(tong)量也(ye)(ye)將發生線性(xing)變化(hua)。對于(yu)不通(tong)(tong)孔(kong)(kong)(kong)，當孔(kong)(kong)(kong)的(de)深(shen)(shen)度(du)和(he)直徑(jing)均為變量時，僅通(tong)(tong)過尋找孔(kong)(kong)(kong)深(shen)(shen)與(yu)孔(kong)(kong)(kong)徑(jing)的(de)乘(cheng)積(ji)與(yu)信號幅度(du)關系去反演或(huo)推算深(shen)(shen)度(du)是不可能的(de)。這也(ye)(ye)是僅采(cai)用(yong)漏磁方(fang)法進行(xing)檢(jian)測(ce)的(de)不足。
b. 缺陷的(de)損(sun)失截面(mian)積檢(jian)測應該(gai)選擇線檢(jian)探頭 線檢(jian)探頭的(de)信號幅度與缺陷損(sun)失的(de)截面(mian)積成比例，因(yin)而有較(jiao)好的(de)測量精度。在(zai)有些檢(jian)測對象(xiang)中應用較(jiao)好。
c. 缺(que)陷的長度檢測應(ying)該用點檢探(tan)頭(tou)(tou)(tou)陣列或點線組(zu)合式探(tan)頭(tou)(tou)(tou) 點檢探(tan)頭(tou)(tou)(tou)敏感(gan)于缺(que)陷的深(shen)度，當采(cai)用點檢探(tan)頭(tou)(tou)(tou)陣列時，缺(que)陷長度覆蓋的通道(dao)數量可(ke)以反映其長度信(xin)息(xi)；另一方面，當線檢探(tan)頭(tou)(tou)(tou)大于缺(que)陷的長度時，感(gan)應(ying)的是深(shen)度和長度的共同(tong)信(xin)息(xi)，如在(zai)其感(gan)應(ying)范圍內并(bing)列布置(zhi)一個或多個點檢探(tan)頭(tou)(tou)(tou)感(gan)受深(shen)度信(xin)息(xi)，則裂紋(wen)的長度就可(ke)以計算(suan)出(chu)來(lai)。
從信號(hao)處理角度(du)(du)來看，點線組合式探頭(tou)需要的(de)通道數(shu)量(liang)較(jiao)(jiao)少，可以同時獲得缺(que)陷的(de)深度(du)(du)、長度(du)(du)、缺(que)失截面積等信息(xi)，具有較(jiao)(jiao)強的(de)應(ying)用價值。
d. 斜向(xiang)(xiang)裂紋(wen)采用點檢探頭(tou)陣列檢測(ce)(ce) 在漏(lou)磁檢測(ce)(ce)中，當缺(que)陷走向(xiang)(xiang)與磁化場(chang)方向(xiang)(xiang)不垂直(zhi)時，漏(lou)磁場(chang)的(de)強度(du)(du)將降(jiang)低，從而獲得較小的(de)信號幅(fu)值。因(yin)此，斜向(xiang)(xiang)缺(que)陷的(de)檢測(ce)(ce)與評估，需要首先(xian)檢測(ce)(ce)出裂紋(wen)的(de)走向(xiang)(xiang)，并且根據走向(xiang)(xiang)修正漏(lou)磁場(chang)信號幅(fu)度(du)(du)，再(zai)進行深度(du)(du)判(pan)別。
另一方(fang)面，當探頭(tou)掃(sao)查路徑垂(chui)直于缺陷(xian)走(zou)向時，檢(jian)測信號(hao)(hao)幅值(zhi)最大(da)；隨著兩者夾角(jiao)不斷(duan)減小，檢(jian)測信號(hao)(hao)幅值(zhi)逐漸降低，同時信號(hao)(hao)特性(xing)也將發生明顯變化。此(ci)時，線檢(jian)探頭(tou)的(de)檢(jian)測信號(hao)(hao)特性(xing)變化很大(da)，點(dian)(dian)檢(jian)探頭(tou)的(de)信號(hao)(hao)幅度波動(dong)卻很小。因此(ci)，可利用點(dian)(dian)檢(jian)探頭(tou)陣列中各通(tong)道(dao)獲得(de)最大(da)幅值(zhi)的(de)時間差異來推(tui)算缺陷(xian)走(zou)向，為后續的(de)信號(hao)(hao)補償與缺陷(xian)判別奠(dian)定基礎(chu)，如圖3-8所示。
漏(lou)磁(ci)(ci)設(she)備(bei)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)能力(li)與(yu)探頭芯結構密切相關，從目(mu)前應用(yong)情況來看，漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)(ce)方(fang)法(fa)對(dui)內(nei)外(wai)部腐(fu)蝕坑、內(nei)外(wai)部周(zhou)／軸向裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)均(jun)有(you)較好的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)精度，同時，對(dui)斜(xie)向裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)具(ju)有(you)一定(ding)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)能力(li)。但是(shi)，漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)(ce)方(fang)法(fa)對(dui)微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)，如初期的(de)(de)(de)(de)疲勞裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)、熱處理的(de)(de)(de)(de)應力(li)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)、軋制時的(de)(de)(de)(de)微(wei)機(ji)械裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)和折疊不太(tai)敏感。究其原因，微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)的(de)(de)(de)(de)開口(kou)均(jun)小于0.05mm，漏(lou)磁(ci)(ci)場強(qiang)度較低，因此，有(you)必(bi)要輔(fu)以渦流、超聲等其他檢(jian)測(ce)(ce)方(fang)法(fa)。
我國進口漏磁檢(jian)測設備采用的(de)(de)(de)基(ji)(ji)本都是基(ji)(ji)于(yu)線圈的(de)(de)(de)線檢(jian)探(tan)頭，這種配置(zhi)需要的(de)(de)(de)信號(hao)通道數量相對(dui)(dui)較(jiao)少、探(tan)靴(xue)的(de)(de)(de)有效(xiao)覆蓋范(fan)圍大(da)。但是，這種方(fang)式對(dui)(dui)缺陷的(de)(de)(de)深度評定需要一定的(de)(de)(de)輔助條件，而(er)且對(dui)(dui)斜向(xiang)缺陷的(de)(de)(de)檢(jian)測靈敏(min)度較(jiao)低(di)。
在具(ju)體應(ying)用(yong)過(guo)程中，首先應(ying)分(fen)析檢測(ce)(ce)要(yao)(yao)求和對(dui)象特點，其(qi)次(ci)要(yao)(yao)認(ren)識探(tan)頭芯(xin)的(de)(de)形(xing)式和結構。總(zong)的(de)(de)來講，采(cai)用(yong)線檢探(tan)頭去檢測(ce)(ce)線狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)深度(du)信息和采(cai)用(yong)點檢探(tan)頭去評定(ding)點狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)長度(du)信息均是不現實的(de)(de)；高精度(du)的(de)(de)檢測(ce)(ce)需要(yao)(yao)以大量(liang)的(de)(de)獨立測(ce)(ce)量(liang)通道(dao)和信號處理系(xi)統(tong)為代(dai)價，因此，應(ying)根(gen)據檢測(ce)(ce)目標綜合(he)權(quan)衡。
