自動化不銹(xiu)鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列(lie)檢(jian)(jian)測探頭(tou)是磁場傳感器的(de)(de)(de)(de)載體和(he)組合，是漏磁檢(jian)(jian)測信號的(de)(de)(de)(de)收集器。隨著漏磁檢(jian)(jian)測應用(yong)的(de)(de)(de)(de)不(bu)斷深入和(he)檢(jian)(jian)測要求的(de)(de)(de)(de)逐步提高，除了磁化問題，另一個核心就是漏磁檢(jian)(jian)測探頭(tou)的(de)(de)(de)(de)設(she)計。若探頭(tou)性(xing)能不(bu)好或者不(bu)合適，則會出現漏判或者誤判，嚴重影響(xiang)漏磁檢(jian)(jian)測的(de)(de)(de)(de)可靠(kao)性(xing)。
另一方面，沒(mei)有一種探頭(tou)是萬(wan)能的(de)(de)(de)。由于自然缺陷的(de)(de)(de)形(xing)態(tai)千變萬(wan)化，檢測(ce)探頭(tou)必然存(cun)在(zai)局限性(xing)，漏判或誤判的(de)(de)(de)情(qing)況在(zai)檢測(ce)實踐中(zhong)時有發生。下面對檢測(ce)探頭(tou)的(de)(de)(de)內部結構和檢測(ce)特性(xing)進行分析。
一、漏磁(ci)檢測(ce)探頭的結構(gou)形式
目前(qian)，最具(ju)代表(biao)性(xing)的(de)不銹(xiu)鋼管漏(lou)磁檢測(ce)傳感(gan)器有兩種(zhong)：霍爾元件和感(gan)應線圈，尤其是集(ji)成霍爾元件和光刻平面(mian)線圈。為了(le)獲得較(jiao)高(gao)的(de)磁場測(ce)量空間分辨(bian)力和相對寬廣的(de)掃查范圍(wei)，檢測(ce)探頭芯(xin)結構有多種(zhong)形式。
1. 點(dian)檢(jian)測(ce)形式 在檢(jian)測(ce)探頭(tou)中，對(dui)某一(yi)點(dian)上或(huo)微小區(qu)域的(de)漏磁場(chang)測(ce)量，并(bing)且(qie)每個測(ce)點(dian)對(dui)應于一(yi)個獨立的(de)信號通(tong)道，如圖3-6a所(suo)示，以下簡稱為點(dian)檢(jian)探頭(tou)。很明顯，點(dian)檢(jian)探頭(tou)中每個點(dian)能夠掃查(cha)的(de)檢(jian)測(ce)范圍很小，但(dan)空間分辨力高，如單個霍(huo)爾元件的(de)敏(min)感面(mian)積只(zhi)有0.2×0.2m㎡，點(dian)檢(jian)用檢(jian)測(ce)線圈(quan)也可(ke)做到(dao)φ1mm內(nei)。
2. 線(xian)檢測(ce)(ce)形式 在檢測(ce)(ce)探頭中，對一條線(xian)上的(de)(de)漏磁場進行綜(zong)合測(ce)(ce)量，如(ru)圖3-6b所示(shi)，以下簡(jian)稱(cheng)為(wei)線(xian)檢探頭。例如(ru)，用感應(ying)(ying)線(xian)圈檢測(ce)(ce)時(shi)(shi)，將(jiang)線(xian)圈做成條狀(zhuang)，則它感應(ying)(ying)的(de)(de)是(shi)線(xian)圈掃查路徑對應(ying)(ying)空間范圍(wei)內的(de)(de)漏磁通的(de)(de)變化。用霍爾(er)元件檢測(ce)(ce)時(shi)(shi)，采用線(xian)陣排列，將(jiang)多(duo)個元件檢測(ce)(ce)信(xin)號用加(jia)法器疊加(jia)后輸出單個通道(dao)信(xin)號，則該(gai)信(xin)號反(fan)映(ying)的(de)(de)是(shi)霍爾(er)元件線(xian)陣長度(du)內的(de)(de)磁感應(ying)(ying)強度(du)的(de)(de)平均(jun)值。
在(zai)漏磁檢測(ce)中，上述兩種形式(shi)是最(zui)基本的(de)形式(shi)，由(you)此(ci)可以組(zu)合成多種形式(shi)的(de)探(tan)頭(tou)，如圖(tu)3-6c所示的(de)平面(mian)內的(de)面(mian)陣列探(tan)頭(tou)，以及圖(tu)3-6d所示的(de)多個平面(mian)上的(de)立體陣列探(tan)頭(tou)。
二、漏磁檢測(ce)探頭的檢測(ce)特性
1. 缺陷類型
不銹鋼管(guan)在進行(xing)漏磁(ci)檢(jian)測方法(fa)和設備(bei)的(de)考(kao)核時(shi)，常采用機加工或(huo)電火花方式(shi)刻(ke)制標準人工缺陷，自然缺陷可表達成(cheng)它們的(de)組合(he)形(xing)式(shi)。為(wei)便于分(fen)析和精確評估，將(jiang)標準缺陷分(fen)成(cheng)下列(lie)三類(lei)。
（1）點(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian) 點(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)(de)面積小，集(ji)中在(zai)一點(dian)(dian)或小圈(quan)內，如標準缺(que)陷(xian)里(li)的(de)(de)通(tong)孔，自然(ran)缺(que)陷(xian)里(li)的(de)(de)蝕坑、斑(ban)點(dian)(dian)、氣孔等，它們產生的(de)(de)漏磁場(chang)是一個集(ji)中的(de)(de)點(dian)(dian)團狀(zhuang)場(chang)，分(fen)布范圍小。
（2）線(xian)(xian)(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷 線(xian)(xian)(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷的(de)寬長比很(hen)小(xiao)，形成一條線(xian)(xian)(xian)，如標準缺陷里的(de)矩形刻(ke)槽、自然缺陷里的(de)裂紋(wen)等，它們產生的(de)漏磁(ci)場是沿線(xian)(xian)(xian)條的(de)帶狀(zhuang)(zhuang)場。
（3）體狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian) 體狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)長、寬、深(shen)尺寸均(jun)較大，形成坑(keng)或窩，如標準缺(que)陷(xian)中的(de)大不通孔、自(zi)然(ran)缺(que)陷(xian)里的(de)片(pian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)腐蝕等，它(ta)們(men)產生的(de)漏磁場分(fen)布范圍廣。
2. 不(bu)同結構探頭(tou)的(de)檢測(ce)特性(xing)
不(bu)銹鋼管在漏磁(ci)檢(jian)測(ce)中，特別要強調空間和方(fang)向的概念(nian)。因為，漏磁(ci)場是空間場，且具有(you)(you)方(fang)向性；漏磁(ci)檢(jian)測(ce)信(xin)號是時間域(yu)的，且沒有(you)(you)相位信(xin)息；不(bu)僅檢(jian)測(ce)探頭具有(you)(you)敏感方(fang)向，而且檢(jian)測(ce)探頭的掃查路(lu)徑也具有(you)(you)方(fang)向性，不(bu)同方(fang)向均會對檢(jian)測(ce)信(xin)號及其(qi)特征產生影(ying)響。
另一(yi)方面，應(ying)該特(te)別(bie)注意缺陷漏磁(ci)場(chang)的(de)(de)(de)表征形(xing)式，在這里(li)，漏磁(ci)場(chang)強(qiang)度(du)和漏磁(ci)場(chang)梯度(du)存(cun)在著本質的(de)(de)(de)不同。霍爾元(yuan)件和感(gan)應(ying)線圈兩種器件的(de)(de)(de)應(ying)用也有著根本的(de)(de)(de)區別(bie)。霍爾元(yuan)件可以測(ce)量(liang)空間(jian)某點上的(de)(de)(de)磁(ci)場(chang)強(qiang)度(du)，而感(gan)應(ying)線圈卻(que)無法實(shi)現；感(gan)應(ying)線圈感(gan)應(ying)的(de)(de)(de)是空間(jian)一(yi)定(ding)范圍(wei)內(nei)的(de)(de)(de)磁(ci)通量(liang)的(de)(de)(de)變化(hua)程度(du)，相反，霍爾元(yuan)件不可以測(ce)量(liang)磁(ci)通量(liang)的(de)(de)(de)變化(hua)，它測(ce)量(liang)的(de)(de)(de)是一(yi)定(ding)空間(jian)范圍(wei)內(nei)的(de)(de)(de)磁(ci)感(gan)應(ying)強(qiang)度(du)的(de)(de)(de)平均值。
下面將逐一分析兩種基本探(tan)頭(tou)形式對不(bu)同(tong)類型缺陷的檢測(ce)信(xin)號特性。
a. 點檢探頭的信號特性(xing)
點(dian)檢探(tan)頭測(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)是(shi)空(kong)間某點(dian)上的(de)漏(lou)磁(ci)感應(ying)強度(du)或磁(ci)通(tong)量(liang)(liang)的(de)變化。點(dian)檢探(tan)頭對點(dian)狀(zhuang)缺(que)陷的(de)檢測(ce)(ce)是(shi)“針尖對麥芒(mang)”，空(kong)間相對位置的(de)微小(xiao)變化，均有可能引起檢測(ce)(ce)信號(hao)幅度(du)的(de)波動。點(dian)狀(zhuang)缺(que)陷的(de)漏(lou)磁(ci)場(chang)分(fen)布(bu)是(shi)尖峰(feng)狀(zhuang)的(de)，當點(dian)檢探(tan)頭正對峰(feng)頂時(shi)，信號(hao)幅度(du)最大，偏離(li)時(shi)信號(hao)幅度(du)將(jiang)急劇(ju)下降。因此，用點(dian)檢探(tan)頭去(qu)檢測(ce)(ce)點(dian)狀(zhuang)缺(que)陷時(shi)將(jiang)會產(chan)生不穩定(ding)的(de)信號(hao)，導致誤判或漏(lou)判。進行(xing)檢測(ce)(ce)設備標定(ding)時(shi)，也難將(jiang)各通(tong)道的(de)靈敏度(du)調整到(dao)一致。
點(dian)檢探頭檢測(ce)線狀缺(que)陷(xian)時(shi)，很容易掃查(cha)到(dao)線狀缺(que)陷(xian)產生的“山脈”狀漏(lou)磁場(chang)的某一(yi)個縱斷面，檢測(ce)信號幅度(du)將(jiang)正比于線狀缺(que)陷(xian)的深度(du)。當線狀缺(que)陷(xian)長度(du)大于一(yi)定值時(shi)，設備(bei)標(biao)定或檢測(ce)信號的一(yi)致性(xing)和穩定性(xing)均較好(hao)。
b. 線(xian)檢探頭的(de)信號特(te)性
線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)測量的(de)是探(tan)頭(tou)長度(du)范圍內的(de)平均磁(ci)感(gan)應(ying)強(qiang)度(du)或磁(ci)通量的(de)變化。與(yu)點檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)相(xiang)比(bi)，線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)的(de)輸(shu)出(chu)信(xin)號特性(xing)不但與(yu)缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)深(shen)度(du)有關(guan)，而且與(yu)缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)長度(du)有關(guan)，最終與(yu)缺(que)(que)(que)陷(xian)缺(que)(que)(que)失的(de)截面積成(cheng)比(bi)例。這類探(tan)頭(tou)不能直接獲得與(yu)缺(que)(que)(que)陷(xian)深(shen)度(du)相(xiang)關(guan)的(de)信(xin)息(xi)，因為長而淺的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)與(yu)短(duan)而深(shen)的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)在檢(jian)(jian)測信(xin)號幅度(du)上有可能是一(yi)樣的(de)。
線檢探頭(tou)對點狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的檢測是“滴水(shui)不漏”。由于線檢探頭(tou)的長度(du)(du)遠大于點狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的長度(du)(du)，在檢測路徑上，缺(que)陷(xian)相對于探頭(tou)位置變化(hua)時(shi)，不會(hui)影(ying)響檢測信(xin)號的幅度(du)(du)，因而(er)一致性較(jiao)好。
線檢探頭(tou)(tou)檢測線狀缺陷(xian)時(shi)，情(qing)況較為復雜，探頭(tou)(tou)與(yu)缺陷(xian)的長度比以(yi)及位置關系均會影(ying)響信號幅值。下面舉(ju)例分析。
如(ru)圖(tu)3-7a所示(shi)，用(yong)有(you)效長度(du)為(wei)25mm的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)檢(jian)(jian)測25mm長的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)刻(ke)(ke)槽。當探(tan)頭(tou)(tou)正對刻(ke)(ke)槽時，獲(huo)得最大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信號幅(fu)值；當探(tan)頭(tou)(tou)與(yu)刻(ke)(ke)槽的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)位(wei)置錯開時，信號幅(fu)值將隨著探(tan)頭(tou)(tou)與(yu)缺(que)陷(xian)交叉重疊程度(du)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)減小而(er)減弱，此(ci)種狀態對檢(jian)(jian)測是不利(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)，不論是設備標(biao)定還是檢(jian)(jian)測應(ying)用(yong)均很難獲(huo)得一(yi)致的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測信號。圖(tu)3-7中(zhong)左邊(bian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)粗線(xian)段為(wei)線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)，中(zhong)間的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)細線(xian)段為(wei)不同位(wei)置的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)線(xian)狀缺(que)陷(xian)，右邊(bian)為(wei)不同探(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測信號幅(fu)度(du)。為(wei)實現線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)致性檢(jian)(jian)測，有(you)如(ru)下兩種做(zuo)法：
①. 減小線檢(jian)(jian)(jian)探頭的(de)有效長度(du)，讓它小于或等于線狀缺陷長度(du)的(de)一半，同時將相(xiang)鄰(lin)檢(jian)(jian)(jian)測探頭按(an)50％重疊(die)布置(zhi)，如圖3-7b所示。可以看出，不論缺陷從哪個路(lu)徑通過探頭陣列，均可在(zai)某一檢(jian)(jian)(jian)測單元中獲得一個最大的(de)信(xin)號幅(fu)值，而在(zai)其他檢(jian)(jian)(jian)測單元中得到(dao)較小的(de)信(xin)號幅(fu)值。
此時(shi)，由于線(xian)狀缺陷長度(du)遠大于探頭(tou)長度(du)，檢(jian)測探頭(tou)測量的(de)是漏磁場“山脈”中的(de)某一段，如果(guo)線(xian)狀缺陷深度(du)一致，它可以直接反映出深度(du)信(xin)息(xi)。將線(xian)檢(jian)探頭(tou)的(de)長度(du)再不斷縮小，線(xian)檢(jian)探頭(tou)則變成點(dian)檢(jian)探頭(tou)。此時(shi)，在采用標準人工缺陷進行設(she)備(bei)標定時(shi)，任何狀態(tai)均可得到一致的(de)檢(jian)測信(xin)號(hao)。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢(jian)測(ce)方法測(ce)量的(de)(de)是線狀(zhuang)缺(que)(que)陷的(de)(de)平(ping)均磁感應強度(du)，因而，它反(fan)映不了線狀(zhuang)缺(que)(que)陷的(de)(de)深度(du)信息。當缺(que)(que)陷的(de)(de)長度(du)逐漸減小時(shi)，則(ze)轉變成線檢(jian)探頭對點(dian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷的(de)(de)檢(jian)測(ce)。
3. 面(mian)向(xiang)對象的檢(jian)測探頭設(she)計和選用
在漏磁檢測中，應(ying)該根(gen)據具體的檢測要求來設計和(he)選擇合(he)適(shi)的探(tan)頭芯結構，下面給(gei)出(chu)幾種(zhong)探(tan)頭設計和(he)選用原則(ze)。
a. 缺陷(xian)(xian)的(de)(de)深度檢測(ce)應該選(xuan)擇(ze)點(dian)檢探(tan)(tan)頭(tou) 點(dian)檢探(tan)(tan)頭(tou)反映(ying)的(de)(de)是(shi)局部(bu)磁感應強度或(huo)其(qi)變化(hua)。當(dang)裂紋較長時，測(ce)點(dian)相當(dang)于對(dui)無限長矩形槽的(de)(de)探(tan)(tan)測(ce)，因而，測(ce)點(dian)的(de)(de)信(xin)號幅度與缺陷(xian)(xian)深度密切相關。但是(shi)，當(dang)線(xian)狀缺陷(xian)(xian)越(yue)來(lai)(lai)越(yue)短時，測(ce)量的(de)(de)誤差(cha)也就越(yue)來(lai)(lai)越(yue)大，特別地，對(dui)點(dian)狀缺陷(xian)(xian)的(de)(de)深度探(tan)(tan)測(ce)幾乎不可能(neng)。
在鋼管漏磁(ci)檢測(ce)校(xiao)樣(yang)(yang)(yang)過程中，一般均以通孔(kong)(kong)(kong)作為標定試樣(yang)(yang)(yang)上的(de)標準缺陷，這(zhe)樣(yang)(yang)(yang)，大、小孔(kong)(kong)(kong)的(de)深(shen)度(du)一致(zhi)，孔(kong)(kong)(kong)徑尺寸(cun)反映出缺失截(jie)面積的(de)線性變化(hua)，因而，漏磁(ci)磁(ci)通量也(ye)(ye)將發生線性變化(hua)。對于不通孔(kong)(kong)(kong)，當(dang)孔(kong)(kong)(kong)的(de)深(shen)度(du)和直徑均為變量時，僅通過尋找孔(kong)(kong)(kong)深(shen)與(yu)孔(kong)(kong)(kong)徑的(de)乘積與(yu)信號幅度(du)關系去反演(yan)或推(tui)算深(shen)度(du)是(shi)不可能的(de)。這(zhe)也(ye)(ye)是(shi)僅采用漏磁(ci)方(fang)法進行檢測(ce)的(de)不足。
b. 缺(que)陷的損失截面積檢測應(ying)該選(xuan)擇線檢探頭 線檢探頭的信號幅度與缺(que)陷損失的截面積成比例(li)，因而有較好(hao)的測量精度。在有些檢測對象中應(ying)用較好(hao)。
c. 缺(que)(que)(que)(que)陷的長(chang)度(du)(du)(du)檢測(ce)應該用點(dian)檢探(tan)頭(tou)(tou)陣列或點(dian)線(xian)組合式探(tan)頭(tou)(tou) 點(dian)檢探(tan)頭(tou)(tou)敏(min)感(gan)于缺(que)(que)(que)(que)陷的深度(du)(du)(du)，當(dang)(dang)采用點(dian)檢探(tan)頭(tou)(tou)陣列時，缺(que)(que)(que)(que)陷長(chang)度(du)(du)(du)覆蓋(gai)的通道(dao)數量可以反映(ying)其(qi)長(chang)度(du)(du)(du)信(xin)(xin)息；另一方面，當(dang)(dang)線(xian)檢探(tan)頭(tou)(tou)大于缺(que)(que)(que)(que)陷的長(chang)度(du)(du)(du)時，感(gan)應的是深度(du)(du)(du)和長(chang)度(du)(du)(du)的共同(tong)信(xin)(xin)息，如(ru)在其(qi)感(gan)應范圍內并列布置(zhi)一個或多個點(dian)檢探(tan)頭(tou)(tou)感(gan)受深度(du)(du)(du)信(xin)(xin)息，則(ze)裂紋的長(chang)度(du)(du)(du)就可以計(ji)算出(chu)來。
從(cong)信(xin)號處(chu)理角度(du)來看(kan)，點線組合式探頭需要的(de)通道(dao)數(shu)量較少，可以同時獲(huo)得缺陷的(de)深度(du)、長(chang)度(du)、缺失截面(mian)積(ji)等信(xin)息(xi)，具有較強的(de)應用價值。
d. 斜向(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)采用點(dian)檢探頭陣列檢測 在漏(lou)磁(ci)檢測中，當(dang)缺(que)陷走(zou)向(xiang)與磁(ci)化(hua)場方向(xiang)不垂(chui)直時，漏(lou)磁(ci)場的(de)強度將(jiang)降(jiang)低(di)，從而獲得較小的(de)信號幅(fu)值。因此，斜向(xiang)缺(que)陷的(de)檢測與評(ping)估，需要首先檢測出(chu)裂(lie)(lie)紋(wen)的(de)走(zou)向(xiang)，并且根據(ju)走(zou)向(xiang)修正漏(lou)磁(ci)場信號幅(fu)度，再進行深度判別。
另(ling)一方面，當探頭(tou)掃查(cha)路徑垂直于缺陷走向時，檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)(xin)號(hao)(hao)幅值(zhi)(zhi)最大(da)；隨著兩者夾角不斷減(jian)小，檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)(xin)號(hao)(hao)幅值(zhi)(zhi)逐漸降低(di)，同時信(xin)(xin)號(hao)(hao)特(te)性(xing)也(ye)將發生(sheng)明顯變化。此(ci)時，線檢(jian)(jian)探頭(tou)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)(xin)號(hao)(hao)特(te)性(xing)變化很大(da)，點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)的(de)信(xin)(xin)號(hao)(hao)幅度波(bo)動(dong)卻很小。因此(ci)，可利用點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)陣列中各通道獲(huo)得最大(da)幅值(zhi)(zhi)的(de)時間(jian)差異來推算缺陷走向，為后續的(de)信(xin)(xin)號(hao)(hao)補償與(yu)缺陷判別奠(dian)定(ding)基礎(chu)，如圖3-8所示。
漏(lou)磁(ci)(ci)設備的(de)檢(jian)測能力與探頭芯結構密切相關，從目前應用情況來看(kan)，漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測方(fang)法對內外(wai)部腐蝕坑(keng)、內外(wai)部周／軸向(xiang)(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)均有較好(hao)的(de)檢(jian)測精度(du)，同時，對斜向(xiang)(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)具有一定(ding)的(de)檢(jian)測能力。但是(shi)，漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測方(fang)法對微裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)，如初期的(de)疲勞(lao)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)、熱處理的(de)應力裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)、軋制(zhi)時的(de)微機械裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)和折(zhe)疊不太敏感。究其原因，微裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)的(de)開(kai)口均小(xiao)于0.05mm，漏(lou)磁(ci)(ci)場(chang)強度(du)較低(di)，因此，有必要(yao)輔以渦流、超聲等其他檢(jian)測方(fang)法。
我(wo)國進(jin)口(kou)漏磁檢測設備采用的(de)基本都(dou)是(shi)基于(yu)線圈的(de)線檢探頭，這種配置需要的(de)信號通道(dao)數(shu)量相對較少、探靴的(de)有效覆蓋(gai)范圍大(da)。但(dan)是(shi)，這種方式對缺陷的(de)深度(du)評定(ding)需要一定(ding)的(de)輔助條件，而且對斜向缺陷的(de)檢測靈敏度(du)較低(di)。
在具體(ti)應用(yong)過程(cheng)中，首先應分析(xi)檢(jian)測(ce)要(yao)(yao)求和對象特點(dian)，其次要(yao)(yao)認識探頭芯的(de)(de)形式和結構。總的(de)(de)來講，采用(yong)線檢(jian)探頭去檢(jian)測(ce)線狀缺陷的(de)(de)深度信(xin)息和采用(yong)點(dian)檢(jian)探頭去評定點(dian)狀缺陷的(de)(de)長(chang)度信(xin)息均(jun)是(shi)不現實(shi)的(de)(de)；高精度的(de)(de)檢(jian)測(ce)需(xu)要(yao)(yao)以(yi)大(da)量的(de)(de)獨立測(ce)量通道和信(xin)號處理系統為代價，因此，應根(gen)據檢(jian)測(ce)目標綜合權(quan)衡。
