自動化不銹(xiu)鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢(jian)測(ce)探(tan)頭(tou)(tou)是(shi)磁(ci)(ci)場(chang)傳感器(qi)(qi)的(de)載體和組(zu)合(he)，是(shi)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)信號(hao)的(de)收集器(qi)(qi)。隨著漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)應(ying)用(yong)的(de)不斷深入和檢(jian)測(ce)要求的(de)逐步提高，除了磁(ci)(ci)化問題(ti)，另一個核心就是(shi)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)探(tan)頭(tou)(tou)的(de)設計(ji)。若探(tan)頭(tou)(tou)性能不好或者不合(he)適，則會出現漏(lou)判或者誤判，嚴重影響(xiang)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)的(de)可靠性。
另一方面，沒有(you)一種探頭是萬能的(de)(de)。由于自然(ran)缺陷的(de)(de)形態千變(bian)萬化，檢(jian)測(ce)探頭必然(ran)存在(zai)局限性，漏判或誤判的(de)(de)情況在(zai)檢(jian)測(ce)實(shi)踐中(zhong)時有(you)發生(sheng)。下面對檢(jian)測(ce)探頭的(de)(de)內(nei)部(bu)結構和檢(jian)測(ce)特性進行分析。
一、漏磁檢(jian)測探頭的結構形式
目前，最(zui)具(ju)代表(biao)性的不銹鋼管漏磁檢(jian)測傳感器有兩種：霍爾元(yuan)件和感應線(xian)圈，尤其是(shi)集成(cheng)霍爾元(yuan)件和光(guang)刻平面線(xian)圈。為了獲(huo)得(de)較高的磁場測量空間分辨力和相對(dui)寬(kuan)廣(guang)的掃查范(fan)圍，檢(jian)測探頭芯結構有多(duo)種形(xing)式。
1. 點(dian)(dian)檢(jian)(jian)測(ce)形式 在(zai)檢(jian)(jian)測(ce)探(tan)頭中，對某一(yi)點(dian)(dian)上或微小(xiao)區域的(de)漏磁場測(ce)量，并且每個測(ce)點(dian)(dian)對應于一(yi)個獨立(li)的(de)信號通道，如圖3-6a所(suo)示，以下(xia)簡稱為點(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭。很明顯，點(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭中每個點(dian)(dian)能夠掃查的(de)檢(jian)(jian)測(ce)范(fan)圍很小(xiao)，但空(kong)間分(fen)辨(bian)力高，如單(dan)個霍爾元(yuan)件的(de)敏感面積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)檢(jian)(jian)用檢(jian)(jian)測(ce)線圈也可做到φ1mm內。
2. 線(xian)(xian)(xian)(xian)檢測形式 在檢測探(tan)頭中，對(dui)(dui)一(yi)條線(xian)(xian)(xian)(xian)上的(de)漏磁(ci)場進(jin)行綜合(he)測量，如(ru)圖(tu)3-6b所示，以(yi)下簡(jian)稱(cheng)為(wei)線(xian)(xian)(xian)(xian)檢探(tan)頭。例(li)如(ru)，用感(gan)(gan)應線(xian)(xian)(xian)(xian)圈(quan)檢測時，將線(xian)(xian)(xian)(xian)圈(quan)做成條狀，則它感(gan)(gan)應的(de)是線(xian)(xian)(xian)(xian)圈(quan)掃查路徑(jing)對(dui)(dui)應空間范圍內(nei)的(de)漏磁(ci)通的(de)變化。用霍爾(er)元件檢測時，采用線(xian)(xian)(xian)(xian)陣(zhen)(zhen)排列，將多個元件檢測信號用加法器(qi)疊加后輸出單個通道信號，則該(gai)信號反(fan)映的(de)是霍爾(er)元件線(xian)(xian)(xian)(xian)陣(zhen)(zhen)長度內(nei)的(de)磁(ci)感(gan)(gan)應強度的(de)平均(jun)值。
在漏磁檢(jian)測(ce)中，上述(shu)兩種(zhong)形式(shi)是最基本的(de)形式(shi)，由此可(ke)以組(zu)合(he)成多種(zhong)形式(shi)的(de)探(tan)頭(tou)(tou)，如圖(tu)3-6c所示的(de)平面(mian)(mian)內(nei)的(de)面(mian)(mian)陣列探(tan)頭(tou)(tou)，以及圖(tu)3-6d所示的(de)多個(ge)平面(mian)(mian)上的(de)立(li)體陣列探(tan)頭(tou)(tou)。
二、漏磁檢(jian)測探頭(tou)的(de)檢(jian)測特性(xing)
1. 缺(que)陷(xian)類型(xing)
不銹(xiu)鋼管在進(jin)行漏磁檢(jian)測方法和設備的考核時，常采用機加工或電火花方式(shi)刻制(zhi)標準人工缺陷，自然缺陷可表達成它們(men)的組合形式(shi)。為(wei)便于(yu)分(fen)析(xi)和精確評估(gu)，將(jiang)標準缺陷分(fen)成下列三類。
（1）點(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian) 點(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)面積(ji)小，集中在一點(dian)(dian)(dian)或小圈內(nei)，如標(biao)準(zhun)缺(que)陷(xian)(xian)里(li)的(de)(de)通(tong)孔，自然缺(que)陷(xian)(xian)里(li)的(de)(de)蝕坑、斑點(dian)(dian)(dian)、氣孔等，它們(men)產生的(de)(de)漏磁場(chang)是一個集中的(de)(de)點(dian)(dian)(dian)團狀(zhuang)(zhuang)場(chang)，分(fen)布范圍小。
（2）線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian) 線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)寬長比(bi)很(hen)小，形(xing)成(cheng)一條線，如標準缺(que)陷(xian)(xian)里的(de)(de)矩形(xing)刻(ke)槽(cao)、自然(ran)缺(que)陷(xian)(xian)里的(de)(de)裂紋(wen)等(deng)，它們產(chan)生的(de)(de)漏磁(ci)場(chang)是沿線條的(de)(de)帶(dai)狀(zhuang)場(chang)。
（3）體(ti)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian) 體(ti)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)長、寬、深尺寸(cun)均較(jiao)大，形成坑或窩，如標準缺(que)陷(xian)(xian)中的(de)大不通(tong)孔、自然(ran)缺(que)陷(xian)(xian)里的(de)片狀(zhuang)腐(fu)蝕等，它們產(chan)生的(de)漏磁場(chang)分(fen)布(bu)范(fan)圍廣。
2. 不(bu)同結構探(tan)頭的檢測特(te)性
不銹鋼(gang)管在漏(lou)磁(ci)檢測中，特別(bie)要強調空(kong)間(jian)(jian)和方向的概念。因為，漏(lou)磁(ci)場(chang)是空(kong)間(jian)(jian)場(chang)，且(qie)具有方向性；漏(lou)磁(ci)檢測信號是時間(jian)(jian)域的，且(qie)沒有相位信息(xi)；不僅檢測探頭(tou)具有敏感方向，而(er)且(qie)檢測探頭(tou)的掃查(cha)路徑也(ye)具有方向性，不同(tong)方向均會對檢測信號及(ji)其特征產(chan)生影響。
另一方面，應(ying)(ying)該特(te)別注意缺(que)陷漏(lou)磁(ci)(ci)場(chang)的(de)表征(zheng)形式，在這里，漏(lou)磁(ci)(ci)場(chang)強度和漏(lou)磁(ci)(ci)場(chang)梯度存(cun)在著本質的(de)不(bu)同。霍爾(er)元件和感(gan)應(ying)(ying)線圈(quan)兩種器件的(de)應(ying)(ying)用也有著根本的(de)區別。霍爾(er)元件可以(yi)測量(liang)(liang)空(kong)(kong)間(jian)某點(dian)上(shang)的(de)磁(ci)(ci)場(chang)強度，而感(gan)應(ying)(ying)線圈(quan)卻無法(fa)實(shi)現；感(gan)應(ying)(ying)線圈(quan)感(gan)應(ying)(ying)的(de)是空(kong)(kong)間(jian)一定范(fan)圍內的(de)磁(ci)(ci)通量(liang)(liang)的(de)變(bian)化程度，相(xiang)反，霍爾(er)元件不(bu)可以(yi)測量(liang)(liang)磁(ci)(ci)通量(liang)(liang)的(de)變(bian)化，它測量(liang)(liang)的(de)是一定空(kong)(kong)間(jian)范(fan)圍內的(de)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)(ying)強度的(de)平均值。
下(xia)面(mian)將逐一分析兩種基本(ben)探頭形式對不同類型缺陷的檢測信號(hao)特(te)性。
a. 點檢探頭的(de)信號特(te)性
點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)測(ce)(ce)量的(de)是空間某點(dian)上的(de)漏(lou)磁感應強度(du)或磁通量的(de)變(bian)化。點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)對(dui)(dui)點(dian)狀缺(que)陷(xian)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)是“針尖對(dui)(dui)麥(mai)芒”，空間相對(dui)(dui)位置的(de)微小變(bian)化，均有可能引起檢(jian)(jian)測(ce)(ce)信號(hao)幅(fu)度(du)的(de)波動。點(dian)狀缺(que)陷(xian)的(de)漏(lou)磁場分布是尖峰(feng)狀的(de)，當點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)正(zheng)對(dui)(dui)峰(feng)頂時，信號(hao)幅(fu)度(du)最大，偏離時信號(hao)幅(fu)度(du)將(jiang)急(ji)劇下降。因此(ci)，用(yong)點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)去檢(jian)(jian)測(ce)(ce)點(dian)狀缺(que)陷(xian)時將(jiang)會產(chan)生(sheng)不(bu)穩定的(de)信號(hao)，導致誤(wu)判或漏(lou)判。進行檢(jian)(jian)測(ce)(ce)設備標定時，也難將(jiang)各通道的(de)靈敏度(du)調(diao)整到一(yi)致。
點檢(jian)探頭檢(jian)測線(xian)狀缺陷時，很容易掃查到線(xian)狀缺陷產生的(de)“山脈(mo)”狀漏(lou)磁場的(de)某一(yi)個(ge)縱(zong)斷面，檢(jian)測信號幅(fu)度將正比(bi)于線(xian)狀缺陷的(de)深(shen)度。當(dang)線(xian)狀缺陷長度大于一(yi)定值時，設備標定或(huo)檢(jian)測信號的(de)一(yi)致性(xing)和穩定性(xing)均較好。
b. 線檢探(tan)頭的信號特性
線(xian)檢(jian)探頭測量(liang)的(de)是(shi)探頭長(chang)度(du)范圍內的(de)平均磁感應(ying)強度(du)或磁通量(liang)的(de)變化(hua)。與(yu)點(dian)檢(jian)探頭相比，線(xian)檢(jian)探頭的(de)輸出(chu)信號特(te)性不但與(yu)缺(que)(que)陷(xian)的(de)深度(du)有(you)關，而(er)(er)且(qie)與(yu)缺(que)(que)陷(xian)的(de)長(chang)度(du)有(you)關，最(zui)終(zhong)與(yu)缺(que)(que)陷(xian)缺(que)(que)失(shi)的(de)截面積成比例。這類探頭不能直接獲得與(yu)缺(que)(que)陷(xian)深度(du)相關的(de)信息，因為長(chang)而(er)(er)淺的(de)缺(que)(que)陷(xian)與(yu)短而(er)(er)深的(de)缺(que)(que)陷(xian)在(zai)檢(jian)測信號幅度(du)上有(you)可(ke)能是(shi)一樣的(de)。
線檢(jian)探(tan)(tan)頭對(dui)點狀缺陷的(de)(de)檢(jian)測是“滴水不漏”。由于(yu)線檢(jian)探(tan)(tan)頭的(de)(de)長度(du)遠大(da)于(yu)點狀缺陷的(de)(de)長度(du)，在檢(jian)測路徑上(shang)，缺陷相(xiang)對(dui)于(yu)探(tan)(tan)頭位置變化時(shi)，不會影(ying)響(xiang)檢(jian)測信號的(de)(de)幅(fu)度(du)，因(yin)而一致性較好。
線(xian)檢(jian)探頭檢(jian)測線(xian)狀(zhuang)缺陷時，情(qing)況較(jiao)為復雜，探頭與(yu)缺陷的(de)長度比以(yi)及位置關系均(jun)會影響信號(hao)幅值。下(xia)面舉(ju)例分(fen)析。
如圖(tu)3-7a所示，用有效長度為25mm的(de)(de)線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)25mm長的(de)(de)刻(ke)槽(cao)。當探(tan)(tan)頭(tou)正對(dui)刻(ke)槽(cao)時(shi)，獲得最大的(de)(de)信號(hao)幅值；當探(tan)(tan)頭(tou)與刻(ke)槽(cao)的(de)(de)位置錯開時(shi)，信號(hao)幅值將隨著探(tan)(tan)頭(tou)與缺陷(xian)(xian)交叉(cha)重疊程(cheng)度的(de)(de)減小而減弱，此(ci)種狀態對(dui)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)是不(bu)利的(de)(de)，不(bu)論是設備標定(ding)還是檢(jian)測(ce)(ce)(ce)應用均很難獲得一致(zhi)(zhi)的(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)信號(hao)。圖(tu)3-7中左邊(bian)的(de)(de)粗線段為線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)，中間的(de)(de)細線段為不(bu)同(tong)位置的(de)(de)線狀缺陷(xian)(xian)，右邊(bian)為不(bu)同(tong)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)信號(hao)幅度。為實現線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)(de)一致(zhi)(zhi)性檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，有如下兩種做法(fa)：
①. 減小(xiao)線(xian)檢探頭的(de)(de)有效長度，讓它小(xiao)于(yu)(yu)或等于(yu)(yu)線(xian)狀缺陷長度的(de)(de)一(yi)半，同時(shi)將(jiang)相鄰檢測探頭按50％重疊布(bu)置(zhi)，如圖3-7b所(suo)示(shi)。可(ke)以(yi)看出，不論缺陷從(cong)哪個路(lu)徑(jing)通(tong)過探頭陣列，均可(ke)在某(mou)一(yi)檢測單(dan)元(yuan)中獲得一(yi)個最大的(de)(de)信(xin)號幅值，而(er)在其他檢測單(dan)元(yuan)中得到較(jiao)小(xiao)的(de)(de)信(xin)號幅值。
此時(shi)，由于(yu)線(xian)狀缺(que)陷長(chang)度(du)(du)遠大于(yu)探(tan)(tan)頭(tou)長(chang)度(du)(du)，檢(jian)測探(tan)(tan)頭(tou)測量的是漏磁場“山脈”中(zhong)的某一(yi)(yi)段，如果線(xian)狀缺(que)陷深度(du)(du)一(yi)(yi)致，它可以直接反映出深度(du)(du)信(xin)息。將線(xian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)的長(chang)度(du)(du)再(zai)不斷縮小，線(xian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)則變成點檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)。此時(shi)，在采用標準人工缺(que)陷進行設備標定(ding)時(shi)，任何狀態均(jun)可得到一(yi)(yi)致的檢(jian)測信(xin)號(hao)。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢測(ce)方法測(ce)量的(de)是線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)平均磁感應強度(du)，因而，它反(fan)映不了線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)深度(du)信息。當缺(que)陷(xian)的(de)長度(du)逐漸(jian)減小時，則轉變成線(xian)檢探頭對點狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)檢測(ce)。
3. 面向(xiang)對象的(de)檢測(ce)探(tan)頭設計和選用
在漏磁檢(jian)(jian)測中，應(ying)該根(gen)據具體的檢(jian)(jian)測要求來設計和選(xuan)(xuan)擇(ze)合適的探(tan)頭芯結構，下面給(gei)出(chu)幾種探(tan)頭設計和選(xuan)(xuan)用原則(ze)。
a. 缺陷(xian)的(de)(de)深度檢(jian)測(ce)(ce)應該選擇(ze)點(dian)檢(jian)探頭 點(dian)檢(jian)探頭反(fan)映的(de)(de)是(shi)局部磁感應強度或其變化。當(dang)裂(lie)紋較長(chang)(chang)時，測(ce)(ce)點(dian)相當(dang)于(yu)對無限(xian)長(chang)(chang)矩(ju)形槽的(de)(de)探測(ce)(ce)，因而，測(ce)(ce)點(dian)的(de)(de)信號幅度與缺陷(xian)深度密切相關。但是(shi)，當(dang)線狀缺陷(xian)越來越短時，測(ce)(ce)量的(de)(de)誤差也(ye)就(jiu)越來越大(da)，特(te)別地(di)，對點(dian)狀缺陷(xian)的(de)(de)深度探測(ce)(ce)幾乎不可(ke)能。
在鋼(gang)管漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測校樣過程中，一般均以通(tong)孔(kong)(kong)作為標定試樣上的(de)標準缺(que)陷，這樣，大(da)、小孔(kong)(kong)的(de)深(shen)度一致(zhi)，孔(kong)(kong)徑尺(chi)寸反(fan)映出缺(que)失截面積的(de)線性(xing)變化(hua)(hua)，因而，漏(lou)磁(ci)(ci)磁(ci)(ci)通(tong)量(liang)也將發(fa)生線性(xing)變化(hua)(hua)。對于不(bu)(bu)通(tong)孔(kong)(kong)，當(dang)孔(kong)(kong)的(de)深(shen)度和(he)直徑均為變量(liang)時，僅通(tong)過尋找孔(kong)(kong)深(shen)與(yu)孔(kong)(kong)徑的(de)乘積與(yu)信號幅(fu)度關系(xi)去反(fan)演或(huo)推算深(shen)度是不(bu)(bu)可(ke)能的(de)。這也是僅采用漏(lou)磁(ci)(ci)方法進行檢(jian)測的(de)不(bu)(bu)足(zu)。
b. 缺陷的損(sun)失截面積檢(jian)測(ce)應該選擇(ze)線檢(jian)探頭(tou) 線檢(jian)探頭(tou)的信號(hao)幅度(du)與缺陷損(sun)失的截面積成比(bi)例，因而有較(jiao)好的測(ce)量精度(du)。在有些(xie)檢(jian)測(ce)對(dui)象中(zhong)應用(yong)較(jiao)好。
c. 缺(que)陷的(de)長(chang)度(du)檢測應該(gai)用(yong)點檢探(tan)(tan)頭(tou)陣列(lie)或(huo)點線(xian)組(zu)合(he)式(shi)探(tan)(tan)頭(tou) 點檢探(tan)(tan)頭(tou)敏感于缺(que)陷的(de)深度(du)，當采用(yong)點檢探(tan)(tan)頭(tou)陣列(lie)時，缺(que)陷長(chang)度(du)覆(fu)蓋的(de)通道數(shu)量(liang)可以(yi)反映其(qi)長(chang)度(du)信息(xi)(xi)；另一(yi)方面，當線(xian)檢探(tan)(tan)頭(tou)大(da)于缺(que)陷的(de)長(chang)度(du)時，感應的(de)是深度(du)和(he)長(chang)度(du)的(de)共同信息(xi)(xi)，如在其(qi)感應范圍內并列(lie)布置一(yi)個(ge)或(huo)多(duo)個(ge)點檢探(tan)(tan)頭(tou)感受深度(du)信息(xi)(xi)，則裂(lie)紋的(de)長(chang)度(du)就可以(yi)計算出來(lai)。
從信號處理角度來看，點(dian)線組合式探頭需要的通(tong)道數量較(jiao)少，可(ke)以同時獲得缺陷的深度、長度、缺失截面積等信息，具有較(jiao)強的應用價值。
d. 斜向裂紋采用點檢(jian)探頭陣列檢(jian)測(ce) 在(zai)漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)中，當缺陷走(zou)向與磁(ci)(ci)化(hua)場方向不垂(chui)直(zhi)時，漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)場的強度(du)將降低，從而獲得較(jiao)小的信號幅值(zhi)。因此，斜向缺陷的檢(jian)測(ce)與評估(gu)，需要(yao)首先檢(jian)測(ce)出裂紋的走(zou)向，并(bing)且根據(ju)走(zou)向修正漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)場信號幅度(du)，再進(jin)行深度(du)判別。
另一方(fang)面(mian)，當(dang)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)掃(sao)查路徑垂直于缺(que)陷(xian)(xian)走(zou)向(xiang)時，檢測信(xin)(xin)號(hao)幅(fu)(fu)值最大；隨著兩者夾角(jiao)不斷減小(xiao)，檢測信(xin)(xin)號(hao)幅(fu)(fu)值逐(zhu)漸(jian)降(jiang)低(di)，同時信(xin)(xin)號(hao)特性(xing)也(ye)將發生明顯(xian)變化。此(ci)時，線檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的檢測信(xin)(xin)號(hao)特性(xing)變化很大，點檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的信(xin)(xin)號(hao)幅(fu)(fu)度波(bo)動(dong)卻很小(xiao)。因此(ci)，可利用點檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)陣列中各(ge)通道獲(huo)得最大幅(fu)(fu)值的時間差(cha)異來推算(suan)缺(que)陷(xian)(xian)走(zou)向(xiang)，為后(hou)續的信(xin)(xin)號(hao)補償與缺(que)陷(xian)(xian)判別奠定基(ji)礎，如圖3-8所示。
漏磁(ci)(ci)設備(bei)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)能力(li)與探頭芯結構密切相關，從目前應(ying)用情況來看，漏磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)方法對(dui)內(nei)外部腐蝕坑、內(nei)外部周／軸向(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)均有(you)(you)較好的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)精度(du)，同時(shi)，對(dui)斜向(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)具(ju)有(you)(you)一定的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)能力(li)。但是(shi)，漏磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)方法對(dui)微(wei)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)，如(ru)初期的(de)疲勞裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)、熱處理的(de)應(ying)力(li)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)、軋制時(shi)的(de)微(wei)機械裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)和折(zhe)疊不太敏(min)感。究其原(yuan)因，微(wei)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)的(de)開口均小于0.05mm，漏磁(ci)(ci)場強(qiang)度(du)較低，因此，有(you)(you)必要輔以渦流、超聲等(deng)其他檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)方法。
我國(guo)進口(kou)漏(lou)磁檢(jian)測(ce)設(she)備(bei)采用的(de)(de)基本(ben)都是(shi)基于(yu)線圈的(de)(de)線檢(jian)探頭，這(zhe)種配(pei)置需要(yao)的(de)(de)信號通道(dao)數量(liang)相對(dui)(dui)較少、探靴的(de)(de)有效覆蓋(gai)范圍(wei)大。但是(shi)，這(zhe)種方式對(dui)(dui)缺(que)(que)陷的(de)(de)深(shen)度評定需要(yao)一定的(de)(de)輔助條(tiao)件(jian)，而(er)且(qie)對(dui)(dui)斜向(xiang)缺(que)(que)陷的(de)(de)檢(jian)測(ce)靈敏度較低。
在具(ju)體(ti)應(ying)用(yong)過(guo)程中(zhong)，首先應(ying)分析檢測(ce)要(yao)求(qiu)和(he)對(dui)象特點，其(qi)次(ci)要(yao)認識探頭(tou)芯(xin)的(de)(de)(de)形(xing)式(shi)和(he)結構。總的(de)(de)(de)來(lai)講(jiang)，采(cai)用(yong)線檢探頭(tou)去檢測(ce)線狀缺(que)陷的(de)(de)(de)深度(du)(du)信息和(he)采(cai)用(yong)點檢探頭(tou)去評定點狀缺(que)陷的(de)(de)(de)長(chang)度(du)(du)信息均是不(bu)現實的(de)(de)(de)；高精度(du)(du)的(de)(de)(de)檢測(ce)需要(yao)以大量的(de)(de)(de)獨(du)立測(ce)量通(tong)道(dao)和(he)信號(hao)處理(li)系統為代(dai)價，因此，應(ying)根據檢測(ce)目標綜合權衡。
