什么是(shi)無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)？ 無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)是(shi)指在(zai)(zai)不(bu)(bu)(bu)(bu)損(sun)害或(huo)不(bu)(bu)(bu)(bu)影(ying)響被(bei)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)對(dui)象使用性(xing)能、不(bu)(bu)(bu)(bu)傷害被(bei)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)對(dui)象內部組織(zhi)的(de)(de)前提(ti)下(xia)，利用材料(liao)內部結構存(cun)在(zai)(zai)異常或(huo)缺陷(xian)而引起(qi)的(de)(de)熱、聲(sheng)、光、電、磁等反應變化(hua)，以物理或(huo)化(hua)學方(fang)法為手段，借助現(xian)代化(hua)的(de)(de)技(ji)術和設備(bei)器材，對(dui)試(shi)件(jian)(jian)(jian)內部及(ji)(ji)表面的(de)(de)結構、性(xing)質、狀(zhuang)態(tai)及(ji)(ji)缺陷(xian)的(de)(de)類(lei)型(xing)、性(xing)質、數量、形狀(zhuang)、位置、尺(chi)寸、分(fen)布及(ji)(ji)其變化(hua)進行(xing)檢(jian)查和測(ce)(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)方(fang)法。 無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)的(de)(de)優(you)點(dian) 無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)具有非(fei)破(po)壞(huai)性(xing)、互容性(xing)、動態(tai)性(xing)等優(you)點(dian)而得到公眾的(de)(de)廣泛認(ren)可(ke)，也(ye)在(zai)(zai)一(yi)定(ding)程度上反映了一(yi)個國家的(de)(de)工(gong)業發展水平，是(shi)工(gong)業發展必(bi)不(bu)(bu)(bu)(bu)可(ke)少(shao)的(de)(de)有效工(gong)具。 非(fei)破(po)壞(huai)性(xing) 非(fei)破(po)壞(huai)性(xing)是(shi)指在(zai)(zai)獲得檢(jian)測(ce)(ce)(ce)結果的(de)(de)同時，除了剔除不(bu)(bu)(bu)(bu)合格品外，不(bu)(bu)(bu)(bu)損(sun)失零(ling)件(jian)(jian)(jian)。因(yin)此，檢(jian)測(ce)(ce)(ce)規模不(bu)(bu)(bu)(bu)受零(ling)件(jian)(jian)(jian)多少(shao)的(de)(de)限制，既可(ke)抽樣(yang)檢(jian)驗，又(you)可(ke)在(zai)(zai)必(bi)要(yao)時采(cai)用普檢(jian)。

  互(hu)容(rong)性(xing)即指檢(jian)驗(yan)(yan)方(fang)(fang)法(fa)(fa)的(de)(de)互(hu)容(rong)性(xing)，即同一零件可同時或依(yi)次(ci)采(cai)用(yong)不同的(de)(de)檢(jian)驗(yan)(yan)方(fang)(fang)法(fa)(fa)，而且又(you)可重復地進行同一檢(jian)驗(yan)(yan)。當然，這也是(shi)非破(po)壞性(xing)帶來的(de)(de)好處。 動(dong)態(tai)(tai)性(xing) 動(dong)態(tai)(tai)性(xing)是(shi)指無(wu)損探傷方(fang)(fang)法(fa)(fa)可對使(shi)用(yong)中的(de)(de)零件進行檢(jian)驗(yan)(yan)，而且能夠(gou)適(shi)時考察產品運行期的(de)(de)累(lei)計影響，可查明結構的(de)(de)失效機(ji)理。 無(wu)損檢(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)方(fang)(fang)法(fa)(fa) 無(wu)損檢(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)方(fang)(fang)法(fa)(fa)很多，據美國國家宇(yu)航(hang)局調研分析可分為六大類約70余(yu)種。但在實際應用(yong)中，比(bi)較常見(jian)的(de)(de)有目視檢(jian)測(ce)(ce)(VT)、射線照相法(fa)(fa)(RT)、超聲波檢(jian)測(ce)(ce)(UT)、磁粉(fen)檢(jian)測(ce)(ce)(MT)、滲(shen)透檢(jian)測(ce)(ce)(PT)、渦(wo)流檢(jian)測(ce)(ce)(ECT)、聲發射(AE)、超聲波衍射時差法(fa)(fa)(TOFD)等(deng)。