什么(me)是(shi)無損(sun)檢(jian)測(ce)？ 無損(sun)檢(jian)測(ce)是(shi)指(zhi)在(zai)不(bu)(bu)(bu)損(sun)害或(huo)不(bu)(bu)(bu)影(ying)響被檢(jian)測(ce)對象使用性(xing)(xing)能、不(bu)(bu)(bu)傷害被檢(jian)測(ce)對象內部(bu)組織的(de)(de)前提(ti)下(xia)，利用材(cai)(cai)料內部(bu)結構(gou)存在(zai)異常或(huo)缺陷而引起(qi)的(de)(de)熱、聲、光(guang)、電、磁(ci)等反應變(bian)化(hua)，以物理或(huo)化(hua)學(xue)方(fang)(fang)法為(wei)手段(duan)，借助現代化(hua)的(de)(de)技術和設備器材(cai)(cai)，對試件(jian)內部(bu)及表面(mian)的(de)(de)結構(gou)、性(xing)(xing)質、狀態(tai)及缺陷的(de)(de)類型、性(xing)(xing)質、數量、形(xing)狀、位(wei)置、尺(chi)寸、分布(bu)及其變(bian)化(hua)進行檢(jian)查和測(ce)試的(de)(de)方(fang)(fang)法。 無損(sun)檢(jian)測(ce)的(de)(de)優(you)點(dian) 無損(sun)檢(jian)測(ce)具(ju)有(you)非(fei)破壞性(xing)(xing)、互容性(xing)(xing)、動態(tai)性(xing)(xing)等優(you)點(dian)而得(de)到公眾(zhong)的(de)(de)廣(guang)泛認可(ke)，也在(zai)一定程度上反映了(le)一個國家的(de)(de)工業發展(zhan)水平，是(shi)工業發展(zhan)必不(bu)(bu)(bu)可(ke)少的(de)(de)有(you)效工具(ju)。 非(fei)破壞性(xing)(xing) 非(fei)破壞性(xing)(xing)是(shi)指(zhi)在(zai)獲得(de)檢(jian)測(ce)結果的(de)(de)同時，除(chu)了(le)剔除(chu)不(bu)(bu)(bu)合格品外(wai)，不(bu)(bu)(bu)損(sun)失零件(jian)。因(yin)此，檢(jian)測(ce)規模不(bu)(bu)(bu)受零件(jian)多少的(de)(de)限制，既可(ke)抽樣(yang)檢(jian)驗，又(you)可(ke)在(zai)必要(yao)時采(cai)用普檢(jian)。

  互容性(xing)即(ji)指(zhi)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)驗(yan)方法(fa)的(de)(de)(de)互容性(xing)，即(ji)同(tong)一(yi)零(ling)件可同(tong)時(shi)(shi)或依次采(cai)用(yong)(yong)不同(tong)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)驗(yan)方法(fa)，而(er)且(qie)又(you)可重復地進行(xing)同(tong)一(yi)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)驗(yan)。當(dang)然，這也是非(fei)破壞性(xing)帶(dai)來的(de)(de)(de)好(hao)處(chu)。 動(dong)態性(xing) 動(dong)態性(xing)是指(zhi)無(wu)(wu)損探(tan)傷方法(fa)可對使用(yong)(yong)中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)零(ling)件進行(xing)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)驗(yan)，而(er)且(qie)能(neng)夠(gou)適時(shi)(shi)考察(cha)產(chan)品運行(xing)期的(de)(de)(de)累計影(ying)響，可查明結構的(de)(de)(de)失效(xiao)機(ji)理。 無(wu)(wu)損檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)(de)方法(fa) 無(wu)(wu)損檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)(de)方法(fa)很多(duo)，據美國國家宇航(hang)局調(diao)研分析可分為六大類約(yue)70余種。但在實際應(ying)用(yong)(yong)中(zhong)(zhong)，比較常見的(de)(de)(de)有目視檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(VT)、射(she)線照相法(fa)(RT)、超聲波檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(UT)、磁粉檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(MT)、滲透檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(PT)、渦流(liu)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ECT)、聲發(fa)射(she)(AE)、超聲波衍射(she)時(shi)(shi)差(cha)法(fa)(TOFD)等。