無損檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)就是(shi)利用聲(sheng)、光、磁和電等特性，在不損害(hai)或不影響被檢(jian)(jian)(jian)對象使(shi)用性能的前提(ti)下，檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)被檢(jian)(jian)(jian)對象中是(shi)否(fou)存在缺(que)陷或不均勻性，給(gei)出缺(que)陷的大小、位置、性質和數量等信息，進而判定(ding)被檢(jian)(jian)(jian)對象所(suo)(suo)處技術(shu)狀態(如合格(ge)與否(fou)、剩余壽命等)的所(suo)(suo)有技術(shu)手(shou)段的總(zong)稱。常用的無損檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)方法：超聲(sheng)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(UT)、磁粉檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(MT)、液體滲透檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(PT)及X射線(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(RT)。       


  超聲波檢測已經單(dan)獨詳細的介紹過(guo)了，下(xia)面就簡(jian)單(dan)地對剩下(xia)的三(san)個進(jin)行介紹和對比。       


 首先來了解一(yi)下，磁(ci)(ci)粉檢(jian)測的(de)(de)原理。鐵(tie)磁(ci)(ci)性材料和工(gong)(gong)件(jian)被(bei)磁(ci)(ci)化后，由于不(bu)連續(xu)性的(de)(de)存在，工(gong)(gong)件(jian)表(biao)面(mian)和近表(biao)面(mian)的(de)(de)磁(ci)(ci)力(li)線發生(sheng)局部畸變(bian)，而產生(sheng)漏磁(ci)(ci)場，吸(xi)附(fu)施加在工(gong)(gong)件(jian)表(biao)面(mian)的(de)(de)磁(ci)(ci)粉，形(xing)成(cheng)在合適光照下目視可見(jian)的(de)(de)磁(ci)(ci)痕(hen)，從而顯示出(chu)不(bu)連續(xu)性的(de)(de)位置、形(xing)狀和大小。       


 磁粉檢測的適用(yong)性和局限性有：


 1. 磁粉探傷(shang)適用于檢測(ce)鐵磁性材料表面(mian)和近表面(mian)尺寸很小、間隙(xi)極(ji)窄目視難以看(kan)出的不(bu)連續性。       


 2. 磁粉檢(jian)測(ce)可對多(duo)種(zhong)情況下(xia)的零部件(jian)檢(jian)測(ce)，還可多(duo)種(zhong)型件(jian)進行檢(jian)測(ce)。       


 3. 可發現裂紋(wen)、夾(jia)雜、發紋(wen)、白點(dian)、折疊、冷隔和疏松等缺陷。       


 4. 磁粉檢測不(bu)能檢測奧氏體不(bu)銹鋼(gang)材料和用奧氏體不(bu)銹鋼(gang)焊(han)條焊(han)接的(de)焊(han)縫(feng)，也不(bu)能檢測銅鋁鎂(mei)鈦等非磁性(xing)材料。對于表(biao)面淺劃傷、埋(mai)藏較深洞和與工件(jian)表(biao)面夾角小于20°的(de)分層和折疊(die)很難發(fa)現。


  液(ye)體滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)檢測的(de)(de)基本原(yuan)理，零(ling)件表面(mian)被(bei)施涂含有熒(ying)光(guang)染(ran)料(liao)或著色染(ran)料(liao)后，在(zai)一(yi)段時間的(de)(de)毛(mao)細管作用(yong)下(xia)，滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)可以滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)進表面(mian)開口缺(que)(que)陷中(zhong)；經去除零(ling)件表面(mian)多余的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)后，再在(zai)零(ling)件表面(mian)施涂顯(xian)像(xiang)劑(ji)，同(tong)樣，在(zai)毛(mao)細管的(de)(de)作用(yong)下(xia)，顯(xian)像(xiang)劑(ji)將吸(xi)引缺(que)(que)陷中(zhong)保留的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)，滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)回滲(shen)(shen)(shen)到(dao)顯(xian)像(xiang)劑(ji)中(zhong)，在(zai)一(yi)定(ding)的(de)(de)光(guang)源(yuan)下(xia)(紫外線光(guang)或白光(guang))，缺(que)(que)陷處的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)痕跡(ji)被(bei)現(xian)實，(黃(huang)綠色熒(ying)光(guang)或鮮(xian)艷(yan)紅(hong)色)，從而探測出缺(que)(que)陷的(de)(de)形貌及(ji)分布狀態(tai)。        


 滲透(tou)檢測的優點(dian)：1. 可檢測各(ge)種材(cai)料； 2. 具(ju)有較高的靈敏(min)度；3. 顯示直觀、操作(zuo)方便、檢測費用低。       


 滲透檢測的缺點：1. 不適于檢(jian)查多孔性疏松材料制(zhi)成的工(gong)件和表(biao)面粗(cu)糙(cao)的工(gong)件；2. 滲透檢(jian)測只能(neng)檢(jian)出缺陷(xian)(xian)的表(biao)面分布，難以確定(ding)缺陷(xian)(xian)的實際(ji)深度，因而很難對缺陷(xian)(xian)做出定(ding)量評價。檢(jian)出結果受操(cao)作(zuo)者(zhe)的影響也(ye)較大(da)。       


 最后一種(zhong)，射(she)線(xian)檢測，是(shi)因為(wei) X射(she)線(xian)穿過被(bei)照射(she)物(wu)(wu)體后會(hui)有損(sun)耗，不同(tong)(tong)(tong)厚度不同(tong)(tong)(tong)物(wu)(wu)質(zhi)對它們的吸收(shou)率不同(tong)(tong)(tong)，而(er)底片放在(zai)被(bei)照射(she)物(wu)(wu)體的另一側，會(hui)因為(wei)射(she)線(xian)強(qiang)度不同(tong)(tong)(tong)而(er)產(chan)生相應的圖(tu)形,評片人員(yuan)就可以(yi)根據影像來判斷物(wu)(wu)體內(nei)部的是(shi)否有缺陷(xian)(xian)以(yi)及缺陷(xian)(xian)的性質(zhi)。 


 射(she)線(xian)檢(jian)測(ce)的(de)適(shi)用性和局限性：   1. 對(dui)檢(jian)測(ce)體積型的(de)缺陷比(bi)較敏感，比(bi)較容易(yi)對(dui)缺陷進(jin)行定性。 2. 射(she)線(xian)底片(pian)易(yi)于(yu)保留，有(you)追溯性。3. 直觀顯示缺陷的(de)形狀和類型。  4. 缺點不能定位(wei)缺陷的(de)埋藏深(shen)度，同(tong)時檢(jian)測(ce)厚(hou)度有(you)限，底片(pian)需專門送洗，并(bing)且對(dui)人身體有(you)一(yi)定害(hai)，成(cheng)本較高(gao)。     


  總而言之，超聲波(bo)、X射線探(tan)傷(shang)適用于探(tan)傷(shang)內(nei)部缺(que)陷；其(qi)中(zhong)超聲波(bo)適用于5mm以上(shang)，且(qie)形(xing)狀規則的(de)(de)部件，X射線不能定(ding)位缺(que)陷的(de)(de)埋藏深度(du)，有輻射。 磁(ci)(ci)(ci)粉、滲透(tou)探(tan)傷(shang)適用于探(tan)傷(shang)部件表面缺(que)陷；其(qi)中(zhong)磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)傷(shang)僅(jin)限于檢測磁(ci)(ci)(ci)性材(cai)料，滲透(tou)探(tan)傷(shang)僅(jin)限于檢測表面開口(kou)缺(que)陷。