無損(sun)檢測(ce)(ce)就是利(li)用聲(sheng)、光、磁(ci)和電等特性，在不損(sun)害或不影響被檢對象(xiang)使用性能的(de)(de)前提(ti)下，檢測(ce)(ce)被檢對象(xiang)中是否存(cun)在缺陷或不均勻性，給出缺陷的(de)(de)大小、位置、性質和數量等信息(xi)，進而判定(ding)被檢對象(xiang)所處(chu)技(ji)術(shu)狀態(如合格與(yu)否、剩(sheng)余壽命等)的(de)(de)所有(you)技(ji)術(shu)手段的(de)(de)總稱。常用的(de)(de)無損(sun)檢測(ce)(ce)方法：超聲(sheng)檢測(ce)(ce)(UT)、磁(ci)粉檢測(ce)(ce)(MT)、液體滲透檢測(ce)(ce)(PT)及(ji)X射線(xian)檢測(ce)(ce)(RT)。       


  超(chao)聲波檢測已經單獨詳細的介紹過(guo)了(le)，下面就簡單地對剩下的三個進行(xing)介紹和對比。       


 首先來了解一下，磁(ci)粉檢(jian)測的原理。鐵(tie)磁(ci)性材(cai)料和工(gong)件被(bei)磁(ci)化后，由(you)于不連續性的存在(zai)，工(gong)件表面(mian)和近(jin)表面(mian)的磁(ci)力(li)線(xian)發生局部畸變，而產生漏磁(ci)場(chang)，吸附施加在(zai)工(gong)件表面(mian)的磁(ci)粉，形成(cheng)在(zai)合適(shi)光照下目視可見的磁(ci)痕(hen)，從而顯(xian)示出不連續性的位置、形狀和大小。       


 磁粉檢測(ce)的適用性(xing)和(he)局限性(xing)有：


 1. 磁粉探傷適用于檢測鐵(tie)磁性材料(liao)表面(mian)和近表面(mian)尺寸很小(xiao)、間(jian)隙極窄目視(shi)難以看出的不連續性。       


 2. 磁粉檢測(ce)(ce)可對多種(zhong)情況(kuang)下的零部件檢測(ce)(ce)，還可多種(zhong)型件進行檢測(ce)(ce)。       


 3. 可發現(xian)裂紋、夾雜、發紋、白點、折(zhe)疊、冷隔和疏松(song)等缺陷。       


 4. 磁(ci)粉檢(jian)測(ce)不(bu)能檢(jian)測(ce)奧(ao)氏體不(bu)銹(xiu)鋼材料(liao)和(he)用奧(ao)氏體不(bu)銹(xiu)鋼焊(han)條焊(han)接的焊(han)縫，也不(bu)能檢(jian)測(ce)銅鋁鎂鈦等非磁(ci)性(xing)材料(liao)。對于(yu)表(biao)面淺劃傷、埋(mai)藏較深洞和(he)與工件表(biao)面夾角小于(yu)20°的分層和(he)折疊很難發現。


  液(ye)體滲(shen)透(tou)檢測的(de)(de)(de)(de)基本原理，零(ling)件表(biao)面被施涂(tu)含有熒光(guang)染料或(huo)著色染料后(hou)，在(zai)(zai)一段時間的(de)(de)(de)(de)毛細管(guan)作用(yong)(yong)下，滲(shen)透(tou)液(ye)可(ke)以滲(shen)透(tou)進表(biao)面開口缺(que)陷(xian)中(zhong)；經(jing)去除零(ling)件表(biao)面多(duo)余的(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)后(hou)，再(zai)在(zai)(zai)零(ling)件表(biao)面施涂(tu)顯像劑(ji)，同樣(yang)，在(zai)(zai)毛細管(guan)的(de)(de)(de)(de)作用(yong)(yong)下，顯像劑(ji)將吸引缺(que)陷(xian)中(zhong)保留的(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)，滲(shen)透(tou)液(ye)回(hui)滲(shen)到(dao)顯像劑(ji)中(zhong)，在(zai)(zai)一定的(de)(de)(de)(de)光(guang)源下(紫外線光(guang)或(huo)白光(guang))，缺(que)陷(xian)處的(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)痕跡被現實，(黃綠色熒光(guang)或(huo)鮮艷紅色)，從而(er)探測出缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)形(xing)貌及分布(bu)狀態(tai)。        


 滲透檢測的優點(dian)：1. 可(ke)檢(jian)測(ce)各種材料； 2. 具有較高的靈敏度；3. 顯示直觀、操作方便、檢(jian)測(ce)費用低。       


 滲透(tou)檢測的(de)缺點：1. 不適于檢(jian)查多孔性疏松材料制成(cheng)的(de)(de)工(gong)件(jian)(jian)和表面粗糙的(de)(de)工(gong)件(jian)(jian)；2. 滲透檢(jian)測只能(neng)檢(jian)出(chu)(chu)缺陷的(de)(de)表面分布，難(nan)以確定缺陷的(de)(de)實(shi)際深度，因而很(hen)難(nan)對缺陷做出(chu)(chu)定量評價。檢(jian)出(chu)(chu)結果受(shou)操作者的(de)(de)影響(xiang)也較大。       


 最(zui)后一種，射(she)線(xian)檢測，是因為(wei) X射(she)線(xian)穿過被照射(she)物體(ti)后會(hui)有(you)損(sun)耗(hao)，不(bu)同(tong)(tong)(tong)厚(hou)度(du)不(bu)同(tong)(tong)(tong)物質(zhi)(zhi)對它們(men)的吸收率不(bu)同(tong)(tong)(tong)，而(er)底片放(fang)在被照射(she)物體(ti)的另一側，會(hui)因為(wei)射(she)線(xian)強度(du)不(bu)同(tong)(tong)(tong)而(er)產生相應的圖形,評片人員(yuan)就可(ke)以(yi)根據影像來判斷物體(ti)內部的是否有(you)缺(que)陷(xian)(xian)以(yi)及缺(que)陷(xian)(xian)的性質(zhi)(zhi)。 


 射線檢(jian)測(ce)(ce)的(de)適用性和局限性：   1. 對(dui)(dui)檢(jian)測(ce)(ce)體積型的(de)缺(que)(que)陷比(bi)較敏感，比(bi)較容易對(dui)(dui)缺(que)(que)陷進(jin)行定(ding)性。 2. 射線底片易于(yu)保(bao)留，有(you)追(zhui)溯(su)性。3. 直觀顯(xian)示缺(que)(que)陷的(de)形狀和類型。  4. 缺(que)(que)點不(bu)能定(ding)位(wei)缺(que)(que)陷的(de)埋藏(zang)深度，同時檢(jian)測(ce)(ce)厚度有(you)限，底片需專門送洗，并且對(dui)(dui)人身體有(you)一定(ding)害，成本較高。     


  總而(er)言之，超聲波、X射(she)(she)線(xian)探(tan)傷(shang)適用(yong)于探(tan)傷(shang)內部(bu)缺(que)(que)(que)陷；其中(zhong)超聲波適用(yong)于5mm以上，且(qie)形狀規(gui)則的部(bu)件(jian)(jian)，X射(she)(she)線(xian)不能定位缺(que)(que)(que)陷的埋藏(zang)深度，有輻射(she)(she)。 磁(ci)粉、滲透探(tan)傷(shang)適用(yong)于探(tan)傷(shang)部(bu)件(jian)(jian)表面(mian)缺(que)(que)(que)陷；其中(zhong)磁(ci)粉探(tan)傷(shang)僅(jin)限(xian)于檢測磁(ci)性材料，滲透探(tan)傷(shang)僅(jin)限(xian)于檢測表面(mian)開(kai)口缺(que)(que)(que)陷。