無損(sun)檢(jian)測(ce)就是(shi)利用聲、光、磁和電(dian)等特性(xing)，在(zai)不損(sun)害或不影(ying)響被(bei)(bei)(bei)檢(jian)對象(xiang)使(shi)用性(xing)能的(de)前提(ti)下，檢(jian)測(ce)被(bei)(bei)(bei)檢(jian)對象(xiang)中是(shi)否存在(zai)缺(que)陷(xian)或不均(jun)勻(yun)性(xing)，給(gei)出缺(que)陷(xian)的(de)大小、位置、性(xing)質和數量等信息，進而判定被(bei)(bei)(bei)檢(jian)對象(xiang)所(suo)處技(ji)術(shu)(shu)狀態(tai)(如合格與(yu)否、剩余壽命等)的(de)所(suo)有技(ji)術(shu)(shu)手段的(de)總稱。常用的(de)無損(sun)檢(jian)測(ce)方法：超聲檢(jian)測(ce)(UT)、磁粉檢(jian)測(ce)(MT)、液體(ti)滲透(tou)檢(jian)測(ce)(PT)及X射線(xian)檢(jian)測(ce)(RT)。       


  超聲(sheng)波(bo)檢測已經(jing)單獨(du)詳細的介(jie)紹(shao)過了(le)，下面(mian)就簡(jian)單地對(dui)(dui)剩下的三個(ge)進(jin)行介(jie)紹(shao)和對(dui)(dui)比(bi)。       


 首先來了解一(yi)下，磁粉檢測的(de)(de)原理。鐵磁性(xing)材料和(he)工件(jian)被磁化后(hou)，由(you)于不連(lian)續性(xing)的(de)(de)存在，工件(jian)表(biao)(biao)面和(he)近表(biao)(biao)面的(de)(de)磁力線發生局部畸變，而產生漏磁場(chang)，吸附施加在工件(jian)表(biao)(biao)面的(de)(de)磁粉，形(xing)成在合適光照下目(mu)視可見的(de)(de)磁痕，從而顯示出(chu)不連(lian)續性(xing)的(de)(de)位置(zhi)、形(xing)狀和(he)大小。       


 磁粉檢測的適用(yong)性(xing)和局(ju)限性(xing)有(you)：


 1. 磁粉探傷適用于檢測鐵(tie)磁性材料表(biao)面和近表(biao)面尺寸很(hen)小(xiao)、間隙極窄目視難以(yi)看(kan)出(chu)的不連(lian)續性。       


 2. 磁粉(fen)檢測(ce)(ce)可對(dui)多(duo)種情況(kuang)下(xia)的零部件檢測(ce)(ce)，還可多(duo)種型件進行檢測(ce)(ce)。       


 3. 可發現裂紋(wen)、夾雜、發紋(wen)、白點、折疊(die)、冷(leng)隔和疏松等缺陷。       


 4. 磁粉檢測(ce)不能檢測(ce)奧(ao)氏體不銹鋼(gang)材料(liao)和(he)用(yong)奧(ao)氏體不銹鋼(gang)焊(han)(han)(han)條焊(han)(han)(han)接的(de)焊(han)(han)(han)縫(feng)，也不能檢測(ce)銅鋁鎂鈦等非磁性材料(liao)。對于表面(mian)淺(qian)劃傷、埋藏較深洞和(he)與工(gong)件表面(mian)夾角(jiao)小于20°的(de)分層和(he)折疊很難發(fa)現。


  液(ye)體滲(shen)透檢(jian)測的(de)基本(ben)原理，零(ling)件表面被施涂(tu)(tu)含有熒光(guang)染料(liao)或著色染料(liao)后，在一(yi)段時(shi)間的(de)毛細管作用(yong)下，滲(shen)透液(ye)可以滲(shen)透進表面開口缺陷中；經去(qu)除(chu)零(ling)件表面多余的(de)滲(shen)透液(ye)后，再在零(ling)件表面施涂(tu)(tu)顯像劑，同樣(yang)，在毛細管的(de)作用(yong)下，顯像劑將吸引缺陷中保(bao)留的(de)滲(shen)透液(ye)，滲(shen)透液(ye)回(hui)滲(shen)到顯像劑中，在一(yi)定的(de)光(guang)源下(紫外線光(guang)或白(bai)光(guang))，缺陷處的(de)滲(shen)透液(ye)痕跡被現(xian)實，(黃綠(lv)色熒光(guang)或鮮艷紅(hong)色)，從而探測出缺陷的(de)形貌及分布狀態。        


 滲透檢測的優點(dian)：1. 可檢(jian)測各(ge)種材(cai)料； 2. 具(ju)有(you)較高(gao)的(de)靈敏(min)度；3. 顯示直(zhi)觀(guan)、操作方便、檢(jian)測費用低。       


 滲透檢測(ce)的缺點(dian)：1. 不適于檢查多孔性(xing)疏松材料(liao)制成的工件和表面粗糙的工件；2. 滲透檢測只(zhi)能檢出(chu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的表面分布，難以確定(ding)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的實(shi)際深度，因而很難對缺(que)(que)陷(xian)(xian)做(zuo)出(chu)定(ding)量評價。檢出(chu)結果受操作者的影(ying)響(xiang)也(ye)較大。       


 最后一種，射線檢(jian)測，是因為 X射線穿過被(bei)照(zhao)射物(wu)體(ti)后會有損(sun)耗，不(bu)同(tong)厚(hou)度不(bu)同(tong)物(wu)質對它們的(de)吸收率不(bu)同(tong)，而(er)底片放在(zai)被(bei)照(zhao)射物(wu)體(ti)的(de)另一側(ce)，會因為射線強(qiang)度不(bu)同(tong)而(er)產生相(xiang)應的(de)圖形,評片人員就可以根(gen)據影像來(lai)判斷物(wu)體(ti)內(nei)部的(de)是否有缺(que)陷(xian)以及(ji)缺(que)陷(xian)的(de)性質。 


 射線檢(jian)測(ce)的(de)適(shi)用性(xing)和局限性(xing)：   1. 對檢(jian)測(ce)體積型的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)比較(jiao)(jiao)敏(min)感(gan)，比較(jiao)(jiao)容(rong)易對缺(que)(que)(que)陷(xian)進(jin)行定性(xing)。 2. 射線底片(pian)易于(yu)保留，有(you)追溯性(xing)。3. 直觀顯示缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)形狀和類型。  4. 缺(que)(que)(que)點不能定位(wei)缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)埋藏(zang)深度(du)，同時檢(jian)測(ce)厚度(du)有(you)限，底片(pian)需(xu)專(zhuan)門送洗，并且(qie)對人身體有(you)一定害，成本較(jiao)(jiao)高(gao)。     


  總而言(yan)之，超(chao)聲波、X射(she)(she)線(xian)探(tan)傷(shang)(shang)適用于(yu)(yu)(yu)探(tan)傷(shang)(shang)內部缺陷；其(qi)中(zhong)超(chao)聲波適用于(yu)(yu)(yu)5mm以(yi)上，且形(xing)狀規則的部件(jian)，X射(she)(she)線(xian)不能定位缺陷的埋藏深度，有輻(fu)射(she)(she)。 磁粉、滲(shen)透探(tan)傷(shang)(shang)適用于(yu)(yu)(yu)探(tan)傷(shang)(shang)部件(jian)表面缺陷；其(qi)中(zhong)磁粉探(tan)傷(shang)(shang)僅限于(yu)(yu)(yu)檢(jian)(jian)測磁性材料(liao)，滲(shen)透探(tan)傷(shang)(shang)僅限于(yu)(yu)(yu)檢(jian)(jian)測表面開口缺陷。