不銹鋼管(guan)自動化(hua)漏磁檢(jian)測系統通常采用多通道陣列檢測探頭技術來提高檢測速度，因此，不可避免地存在各漏磁檢測傳感器的靈敏度和提離值不同。同時由于每個信號通道的放大濾波電路差異，最終會造成在檢測相同裂紋時每個通道拾取的信號幅值不一致。為此，需要對陣列檢測探頭通道靈敏度進行標定，通過增益調整的方式使各檢測通道的靈敏度相同。
標定(ding)是(shi)在正常工作(zuo)采集(ji)前(qian)對各檢(jian)(jian)(jian)測(ce)通道一致性的(de)(de)預處理。在漏磁檢(jian)(jian)(jian)測(ce)中，一般在檢(jian)(jian)(jian)測(ce)設(she)備使(shi)用了一定(ding)的(de)(de)次(ci)數(shu)或時間(jian)后將要(yao)進(jin)行(xing)一次(ci)標定(ding)處理，包括：
（1）校準(zhun)通道基準(zhun)
通(tong)道(dao)基(ji)準(zhun)(zhun)是(shi)(shi)信號圖形化顯示的(de)基(ji)線，校準(zhun)(zhun)通(tong)道(dao)基(ji)準(zhun)(zhun)一(yi)方(fang)(fang)面是(shi)(shi)為(wei)了檢測信號最(zui)大化圖形顯示；另一(yi)方(fang)(fang)面，校準(zhun)(zhun)通(tong)道(dao)基(ji)準(zhun)(zhun)是(shi)(shi)同多通(tong)道(dao)融合處理的(de)必要條(tiao)件。最(zui)常用(yong)的(de)校準(zhun)(zhun)通(tong)道(dao)基(ji)準(zhun)(zhun)的(de)方(fang)(fang)法是(shi)(shi)每個通(tong)道(dao)對(dui)自(zi)身通(tong)道(dao)的(de)所有數(shu)據求均值，即
Ci=Σdj/Ln (4-44) 式中，C；是第(di)i個(ge)(ge)通(tong)道的(de)基準(zhun)；L。為第(di)i個(ge)(ge)通(tong)道的(de)數據(ju)長度；dj為第(di)i個(ge)(ge)通(tong)道第(di)j個(ge)(ge)數據(ju)的(de)采樣值。
（2）校準通道(dao)增益
通道增(zeng)益(yi)是信號(hao)圖(tu)形化(hua)顯(xian)示(shi)的放大倍數，不(bu)僅影響(xiang)圖(tu)形化(hua)的顯(xian)示(shi)效果，更重(zhong)要的是通道增(zeng)益(yi)的校準是缺陷判斷(duan)的重(zhong)要參(can)數。檢測設(she)備對不(bu)同材(cai)質(zhi)、不(bu)同規格(ge)的被測物件的靈(ling)敏度(du)會有(you)不(bu)同，且各傳感器靈(ling)敏度(du)之(zhi)間(jian)也會有(you)一定(ding)差(cha)異，所以校準通道增(zeng)益(yi)是標定(ding)處理中的重(zhong)要環節。
校準通道增(zeng)益與具(ju)體的檢測(ce)應(ying)用(yong)(yong)，特(te)別是與具(ju)體的標(biao)樣有(you)著密切的關系。常用(yong)(yong)的校準通道增(zeng)益的方(fang)法是：將(jiang)(jiang)標(biao)樣上標(biao)準缺(que)(que)陷的峰值(zhi)校準到對應(ying)門(men)限值(zhi)處，一(yi)般(ban)是將(jiang)(jiang)相同缺(que)(que)陷逐一(yi)或一(yi)次性能地被傳感(gan)器檢測(ce)到。
Y;=THp/(dimax-C;) (4-45) 式中(zhong)，Y；是第(di)(di)i個通道(dao)(dao)的(de)增益(yi)；TH為門限值(zhi)；dimar是第(di)(di)i個通道(dao)(dao)檢(jian)測到的(de)指(zhi)定(ding)缺陷的(de)峰值(zhi)；C；為經校準過的(de)第(di)(di)i個通道(dao)(dao)的(de)基準；p為單位轉換(huan)系數。
為提高不(bu)銹(xiu)鋼(gang)管漏磁檢測多通道標定的速度與正確性，可將復雜的標定過程分為兩個步驟，也即靜態標定與動態標定。首先，使用“電子標定器”產生標準的磁場信號對探頭陣列進行校準，將標準磁信號依次遍歷探頭中每一個磁敏通道，然后根據各通道的檢測幅值差異進行增益調整，最終使所有傳感器到達相同的靈敏度。此標定過程中，不需要鋼管在傳輸線上運動，稱為靜態標定，此方法可用在探頭出廠的質量測試與設備運行的標定過程。然后，進一步利用含有人工缺陷的樣管進行復核。此種方法可極大地提高校樣效率和標定精度。
一(yi)、靜態標定方法
電(dian)(dian)子(zi)標(biao)定器(qi)是(shi)一種(zhong)標(biao)準的(de)磁(ci)信(xin)號(hao)發生器(qi)。如圖(tu)4-91所示，永久磁(ci)鐵在標(biao)定器(qi)中(zhong)做高速旋轉運(yun)動，形成脈動磁(ci)信(xin)號(hao)源，產(chan)生的(de)磁(ci)場信(xin)號(hao)遍歷檢測探靴中(zhong)的(de)磁(ci)敏感元件(jian)，形成標(biao)定磁(ci)信(xin)號(hao)。電(dian)(dian)子(zi)標(biao)定器(qi)包括操作(zuo)手柄、套筒、外罩、電(dian)(dian)池(chi)及(ji)充電(dian)(dian)器(qi)。其(qi)主要(yao)有以(yi)下特點：
1）采用一(yi)個永磁源，信號(hao)穩定一(yi)致。
2）永(yong)磁(ci)源做(zuo)高(gao)速(su)、高(gao)精度(du)旋轉運(yun)動，磁(ci)場源與(yu)探頭(tou)之間相對運(yun)動的速(su)度(du)不會影響標定準確(que)性。
3）采用離線方式對單個探靴依(yi)次標定(ding)。
4）精(jing)度高(gao)(gao)，可靠性高(gao)(gao)，工作(zuo)性能穩(wen)定。
5）手提便(bian)攜式(shi)設(she)計，體(ti)積小(xiao)巧，攜帶使用方便(bian)。
采用電(dian)子標定器對檢測探(tan)頭進行(xing)靜態(tai)標定的(de)流程(cheng)如(ru)下：
（1）準(zhun)備工(gong)作(zuo)一檢測信號系統處于工(gong)作(zuo)狀態。安裝檢測軟件，并將(jiang)標定探頭、前置放大(da)器(qi)、數據采集卡以及(ji)顯示(shi)計算機依次(ci)連接好(hao)，如圖4-92所示(shi)。
（2）標定 首先進入軟件標定界面，如圖(tu)4-93所示。
將(jiang)標定(ding)(ding)器(qi)放在(zai)(zai)探(tan)頭(tou)檢測面(mian)上(shang)，用(yong)標定(ding)(ding)器(qi)的定(ding)(ding)位邊緊貼(tie)在(zai)(zai)探(tan)頭(tou)一側進行左右(you)定(ding)(ding)位，如(ru)圖4-94所示。
打開(kai)標定(ding)器(qi)，開(kai)始輸出磁(ci)場信號。檢測(ce)過程中，推動標定(ding)器(qi)從探頭的(de)(de)一端(duan)較勻速地滑向另(ling)一端(duan)。每個通(tong)道的(de)(de)信號通(tong)過前置放大(da)器(qi)、數(shu)據采集(ji)卡，最終被檢測(ce)軟件獲取及保存(cun)。
保存數據，關(guan)閉標(biao)定器(qi)。
（3）數據分析(xi)，調(diao)節增益 打開數據軟件采集的數據，如圖(tu)4-95所示(shi)。
圖4-95中，通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)1波高(gao)(gao)55.5dB，通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)2波高(gao)(gao)55dB，通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)3波高(gao)(gao)57dB，通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)4波高(gao)(gao)56dB，通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)5波高(gao)(gao)56dB，通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)6波高(gao)(gao)55dB，通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)7波高(gao)(gao)56dB，通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)8波高(gao)(gao)56.5dB。之后，將(jiang)門限(xian)設置為大多數通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)信號的波高(gao)(gao)處，如圖4-96所示。
將通道(dao)(dao)1增(zeng)(zeng)益(yi)提高0.5dB，通道(dao)(dao)2、6增(zeng)(zeng)益(yi)提高1dB，通道(dao)(dao)3增(zeng)(zeng)益(yi)減小(xiao)1dB，通道(dao)(dao)8增(zeng)(zeng)益(yi)減小(xiao)0.5dB。調節后(hou)再用標定器重復步(bu)驟(zou)（2），得(de)到的信號(hao)如圖(tu)4-97所(suo)示。
二、動(dong)態標定方法(fa)
動態標定方法是指采用帶(dai)有(you)人工缺陷的(de)鋼(gang)管重復(fu)通過(guo)(guo)(guo)檢(jian)測系統，來對陣列檢(jian)測通道進行標定。在標定過(guo)(guo)(guo)程中，需要調整鋼(gang)管的(de)角度與位置使鋼(gang)管上的(de)同一缺陷依次經過(guo)(guo)(guo)不同的(de)檢(jian)測通道。
不銹鋼管橫(heng)向缺陷(xian)(xian)檢(jian)測(ce)(ce)系統的(de)標定方(fang)法為，在(zai)鋼管表(biao)面刻(ke)制一(yi)個環形槽，一(yi)次(ci)性通(tong)過(guo)所有橫(heng)向缺陷(xian)(xian)檢(jian)測(ce)(ce)傳感(gan)器，或者(zhe)通(tong)過(guo)不斷調整刻(ke)制有標準橫(heng)向缺陷(xian)(xian)鋼管的(de)角度，使缺陷(xian)(xian)依次(ci)經過(guo)所有橫(heng)向檢(jian)測(ce)(ce)通(tong)道，最終可根據(ju)各(ge)通(tong)道產生的(de)信號幅值差(cha)異進(jin)行增益(yi)調整，使得(de)缺陷(xian)(xian)無論以何種角度進(jin)入橫(heng)向檢(jian)測(ce)(ce)主(zhu)機各(ge)通(tong)道均(jun)能獲得(de)一(yi)致的(de)檢(jian)測(ce)(ce)信號幅值。
縱(zong)向缺(que)陷(xian)(xian)檢(jian)(jian)測(ce)系統的(de)標(biao)定則可利用(yong)刻(ke)制在樣管上(shang)的(de)長軸向裂紋一(yi)次(ci)性通(tong)(tong)過所有(you)縱(zong)向缺(que)陷(xian)(xian)檢(jian)(jian)測(ce)傳(chuan)感器，或者(zhe)刻(ke)制有(you)標(biao)準縱(zong)向缺(que)陷(xian)(xian)的(de)鋼(gang)管慢(man)慢(man)向前運動(dong)，使缺(que)陷(xian)(xian)依次(ci)經過所有(you)縱(zong)向檢(jian)(jian)測(ce)通(tong)(tong)道，同(tong)樣，最后根據各通(tong)(tong)道的(de)信號(hao)輸出差異來調整(zheng)通(tong)(tong)道增(zeng)益，使得所有(you)傳(chuan)感器產生(sheng)相(xiang)同(tong)的(de)信號(hao)幅(fu)值。常用(yong)的(de)標(biao)定方法對樣管的(de)制作(zuo)要求較高，如樣管上(shang)的(de)環形槽(cao)和長裂紋。如果用(yong)于標(biao)定的(de)缺(que)陷(xian)(xian)尺寸或形位(wei)尺寸精度不滿(man)足相(xiang)應(ying)要求，則會降低(di)標(biao)定的(de)效果和準確性。
