評定香蕉視頻app連接:氫脆的(de)實(shi)驗方法(fa)有(you)以下幾種。
1. 彎曲次數(shu)法(fa)
應用板狀試(shi)樣(yang)，在特制的夾具上(shang)對試(shi)樣(yang)進行(xing)一定角度的彎曲（通常是(shi)120°)直至試(shi)樣(yang)斷(duan)裂，記下(xia)彎曲的總次數n,脆(cui)性系數α可(ke)表示如下(xia)：
式中(zhong)：n空為不含(han)氫彎曲至斷裂的次(ci)數(shu)；n氫為充氫彎曲至斷裂的次(ci)數(shu)。
當(dang)a=0時，說明金(jin)屬對氫脆(cui)不敏(min)(min)感；而當(dang)a=1時，則極為敏(min)(min)感。
2. 斷面收縮率(lv)法
應用拉伸試樣(yang)，在(zai)一定的拉伸速率下(xia)，測量(liang)試樣(yang)斷(duan)裂(lie)時(shi)的斷(duan)面收(shou)縮率ψ,其脆性(xing)系數可表示為：
式中：ψ0為空(kong)白試(shi)樣(yang)的斷(duan)面收縮率；ψ為含氫試(shi)樣(yang)的斷(duan)面收縮率；α在0~1之間(jian)變化，α越小，說明氫脆敏(min)感性(xing)越小。
3. 慢應變速率拉(la)伸法(fa)
此方(fang)法詳見1.4.4小節。
4. 氫(qing)滲(shen)透(tou)法
目前(qian)，多采用Devnathan-Stachurski 雙(shuang)電(dian)(dian)(dian)解(jie)池(chi)(chi)技術來測(ce)量腐蝕過(guo)程中氫的(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)量。它是(shi)由作(zuo)為雙(shuang)面電(dian)(dian)(dian)極(ji)的(de)金(jin)(jin)屬(shu)所構成(cheng)的(de)兩個電(dian)(dian)(dian)解(jie)池(chi)(chi)構成(cheng)的(de)，金(jin)(jin)屬(shu)的(de)一面作(zuo)為陰極(ji)池(chi)(chi)，一面作(zuo)為陽極(ji)池(chi)(chi)。陰極(ji)池(chi)(chi)內發生析氫反(fan)應，產生的(de)氫原子滲(shen)(shen)透(tou)(tou)過(guo)金(jin)(jin)屬(shu)試樣在陽極(ji)池(chi)(chi)被氧化(hua)為氫離(li)子，用記錄儀測(ce)得(de)氧化(hua)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)，即氫滲(shen)(shen)透(tou)(tou)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)的(de)大(da)小，作(zuo)出它隨時間(jian)的(de)變化(hua)關系(xi)圖，通過(guo)對電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)一時間(jian)曲線下的(de)面積進(jin)行積分(fen)計算，可得(de)到氫滲(shen)(shen)透(tou)(tou)量。改變陰極(ji)池(chi)(chi)電(dian)(dian)(dian)解(jie)質(zhi)的(de)濃(nong)度(du)和(he)外(wai)加(jia)電(dian)(dian)(dian)位(wei)的(de)大(da)小，作(zuo)出濃(nong)度(du)、電(dian)(dian)(dian)位(wei)與氫滲(shen)(shen)透(tou)(tou)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)的(de)關系(xi)圖。此(ci)方法較(jiao)直觀，能(neng)夠較(jiao)準確(que)地測(ce)得(de)金(jin)(jin)屬(shu)中的(de)氫滲(shen)(shen)透(tou)(tou)情況，以此(ci)來評(ping)價金(jin)(jin)屬(shu)發生氫脆的(de)可能(neng)性(xing)。
一些研究者利用氯滲透法進行了相關的研究。張學元等人研究得出了16Ma鋼在硫化氫溶液中的穩態氯滲透電流IH和H2S濃度的關系，并認為溫度對硫化氫擴散的影響主要表現在擴散系數上。氫在金屬中的擴散速率受陷阱位置控制，取決于陷阱的大小和分布，氫與陷阱的結合能的大小等。
